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一种碳化硅晶片单向四次双向八级台阶切割工艺

摘要

本发明公开了一种碳化硅晶片单向四次双向八级台阶切割工艺,通过上面在碳化硅晶锭厚度方向的对称位置第1次切割至最深位置;随后在左边和右边同样地进行3次切割到与第1次相同深度,从而建立起一个相对平缓的多次水射流宽度的面,这个面作为避免水柱干扰的第二深度切割的起始面;在中心对称线的左侧采用相同的喷口进行第2层首次切割到其最深深度;随后在厚度对称轴线的右侧进行2次切割,并达到与第2层首次切割的相同深度;进行第3层首次切割,以达到碳化硅晶锭半径以上深度。本发明通过台阶法切割实现单晶碳化硅晶锭的高深度切割,实现了高效率、高质量、低成本、低损伤、高出品率制备SiC单晶衬底,具有推广应用的价值。

著录项

  • 公开/公告号CN112775563A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-05-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 成都中创光科科技有限公司;

    申请/专利号CN202011509224.7

  • 发明设计人 郭辉;蒋树庆;胡彦飞;

    申请日2020-12-18

  • 分类号B23K26/38(20140101);B23K26/402(20140101);B23K26/142(20140101);B23K26/146(20140101);

  • 代理机构11350 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人汤东凤

  • 地址 610052 四川省成都市成华区东华一路铁建广场2-1501

  • 入库时间 2023-06-19 10:57:17

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-05-05

    授权

    发明专利权授予

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