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星载微波辐射计天线方向特性的测量方法及测量装置

摘要

本发明公开了一种星载微波辐射计天线方向特性的测量方法和测量装置。该测量方法包括如下步骤:获取包括静止轨道卫星的轨道参数、姿态的数据,得到太阳的位置、运动方向及运动速度;将星载微波辐射计的偏航轴对准太阳,规划静止轨道卫星在互相垂直的水平面和竖直面内以太阳为中心旋转一周,采集并存储静止轨道卫星的旋转角度和星载微波辐射计的电压值;数据采集结束后,将星载微波辐射计的偏航轴对准地心,将存储在静止轨道卫星上的数据传输至地面;对包括静止轨道卫星的旋转角度值和与之对应的星载微波辐射计的水平观测电压值、竖直观测电压值的数据进行处理;根据处理后的数据,得到星载微波辐射计天线的主瓣方向图和旁瓣方向图。

著录项

  • 公开/公告号CN112526227A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202011315028.6

  • 申请日2020-11-20

  • 分类号G01R29/10(20060101);H04B17/20(20150101);H04B17/29(20150101);H04B17/40(20150101);

  • 代理机构11381 北京汲智翼成知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人陈曦;董烨飞

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街46号国家卫星气象中心

  • 入库时间 2023-06-19 10:19:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-09-20

    授权

    发明专利权授予

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