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一种考虑残余应力影响的结构件高周疲劳寿命预测方法

摘要

本发明涉及一种考虑残余应力影响的结构件高周疲劳寿命预测方法,步骤为:(1)开展相同材料标准件高周疲劳试验,建立高周疲劳寿命模型;(2)根据实际工艺情况,进行残余应力分布有限元模拟;(3)根据真实服役条件进行结构件应力分布计算,叠加残余应力分别获取有无残余应力时结构件应力分布;(4)开展无残余应力结构件高周疲劳试验,根据试验结果拟合临界距离表达式;(5)根据有限元分析结果对结构件高应力体积区域进行统计,获取有无残余应力时高应力体积区域的变化;(6)开展有残余应力结构件高周疲劳试验,根据试验结果对临界距离表达式进行修正;(7)利用高应力体积法修正的临界距离理论进行有残余应力的结构件高周疲劳寿命预测,获取预测结果。

著录项

  • 公开/公告号CN112487683A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202011379274.8

  • 发明设计人 胡殿印;田腾跃;王荣桥;毛建兴;

    申请日2020-12-01

  • 分类号G06F30/23(20200101);G06F119/04(20200101);G06F119/14(20200101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人张乾桢;顾炜

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2023-06-19 10:11:51

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-16

    授权

    发明专利权授予

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