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电压降的确定方法、确定装置和计算机可读存储介质

摘要

本申请提供了一种电压降的确定方法、确定装置和计算机可读存储介质。该确定方法,包括:获取芯片的版图数据;获取芯片的设计参数,设计参数至少包括预定功耗值和工作电压;根据版图数据和设计参数,搭建芯片版图的脚本的运行环境;运行脚本的运行环境,得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。该确定方法,避免了现有技术中,获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多,操作较繁琐的问题,使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。

著录项

  • 公开/公告号CN112464598A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-09

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 长江存储科技有限责任公司;

    申请/专利号CN202011432772.4

  • 发明设计人 侯助荣;姜鹏;

    申请日2020-12-09

  • 分类号G06F30/3308(20200101);G06F30/392(20200101);

  • 代理机构11240 北京康信知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人霍文娟

  • 地址 430074 湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号

  • 入库时间 2023-06-19 10:08:35

说明书

技术领域

本申请涉及半导体领域,具体而言,涉及一种电压降的确定方法、确定装置、计算机可读存储介质和存储器。

背景技术

随着半导体工艺金属互连线宽度越来越窄,导致它的电阻值上升,所以在整个芯片范围内将存在一定的电压降,电压降是出现在集成电路中电源和地网络上电压下降或升高的一种现象,电压降的大小取决于从电源焊盘到所计算的逻辑门单元之间的等效电阻的大小,它会影响芯片时序,降低芯片速度,甚至引起芯片功能故障,随着芯片面积变大,速度要求变快,工作电压降低,连线越来越复杂情况下,电压降分析显得尤为重要。

目前,大部分电压降工具主要以分析专用集成电路为主,电压降分析流程比较复杂。

因此,亟需一种方法,来解决现有的得到电压降的流程较复杂的问题。

在背景技术部分中公开的以上信息只是用来加强对本文所描述技术的背景技术的理解,因此,背景技术中可能包含某些信息,这些信息对于本领域技术人员来说并未形成在本国已知的现有技术。

发明内容

本申请的主要目的在于提供一种电压降的确定方法、确定装置、计算机可读存储介质和存储器,以解决现有技术中得到电压降的流程较复杂的问题。

根据本申请实施例的一个方面,提供了一种电压降的确定方法,包括:获取芯片的版图数据;获取所述芯片的设计参数,所述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压;根据所述版图数据和所述设计参数,搭建芯片版图的脚本的运行环境,所述芯片版图为所述芯片的版图;运行所述脚本的运行环境,得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。

可选地,所述版图数据为编译器可识别的数据格式,搭建所述芯片版图的脚本的运行环境,包括:按照所述数据格式搭建所述芯片版图的脚本的运行环境。

可选地,运行所述脚本的运行环境,得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降,包括:确定参考点的坐标;根据所述参考点的坐标,运行所述脚本的运行环境,得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降。

可选地,根据所述参考点的坐标,运行所述脚本的运行环境,得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降,包括:根据所述参考点的坐标,运行所述脚本的运行环境,得到所述分析区域的所述电压降的分布示意图,所述分布示意图中,不同的颜色表征不同的电压降;根据所述分布示意图,确定各所述分析区域的各所述位置点的电压降。

可选地,在根据所述参考点的坐标,运行所述脚本的运行环境,得到包括所述参考点的分析区域的各所述位置点的电压降之后,所述方法还包括:根据所述分析区域的各所述位置点的电压降,确定所述分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标。

可选地,根据所述分析区域的各所述位置点的电压降,确定所述分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标,包括:根据第一分析区域的各所述位置点的电压降,确定所述第一分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标,其中,所述第一分析区域包括第一参考点,所述第一参考点为所述芯片版图的电源线的中心点;根据第二分析区域的各所述位置点的电压降,确定所述第二分析区域中的最大的所述电压降的所述位置点对应的坐标,其中,所述第二分析区域包括第二参考点,所述第二参考点为所述芯片版图的地线的中心点。

可选地,获取芯片版图的数据格式,包括:获取所述芯片版图的GDS格式数据;通过Milky-way工具将所述GDS格式数据转换为编译器可识别的所述数据格式。

可选地,所述编译器为C编译器和/或C++编译器。

根据本申请实施例的另一方面,还提供了一种电压降的确定装置,包括第一获取单元、第二获取单元、搭建单元和运行单元,其中,所述第一获取单元用于获取芯片的版图数据;所述第二获取单元用于获取所述芯片的设计参数,所述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压;所述搭建单元用于根据所述版图数据和所述设计参数,搭建芯片版图的脚本的运行环境,所述芯片版图为所述芯片的版图;所述运行单元用于运行所述脚本的运行环境,得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。

根据本申请实施例的再一方面,还提供了一种计算机可读存储介质,所述存储介质包括存储的程序,其中,所述程序执行任意一种所述的方法。

根据本申请实施例的又一方面,还提供了一种存储器,所述存储器用于运行程序,其中,所述程序运行时执行任意一种所述的方法。

本申请提供了一种电压降的确定方法,所述的电压降的确定方法,首先获取芯片版图的数据格式,所述数据格式为编译器可识别的数据格式,然后确定所述芯片版图的预定功耗值和工作电压等设计参数;再根据所述设计参数,按照所述数据格式搭建所述芯片版图的脚本的运行环境;最后运行所述脚本的运行环境,得到所述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降,使用该方法,避免了现有技术中,获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多,操作较繁琐的问题,使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本申请的进一步理解,本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请,并不构成对本申请的不当限定。在附图中:

图1示出了根据本申请的实施例的电压降的确定方法生成的流程示意图;

图2示出了根据本申请的实施例的电压降的确定装置的示意图;

图3示出了根据本申请的实施例的得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程示意图。

具体实施方式

需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。

为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。

需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施例。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

应该理解的是,当元件(诸如层、膜、区域、或衬底)描述为在另一元件“上”时,该元件可直接在该另一元件上,或者也可存在中间元件。而且,在说明书以及权利要求书中,当描述有元件“连接”至另一元件时,该元件可“直接连接”至该另一元件,或者通过第三元件“连接”至该另一元件。

正如背景技术中所说的,现有技术中得到电压降的流程较复杂,为了解决上述问题,本申请提供了一种电压降的确定方法、确定装置、计算机可读存储介质和存储器。

本申请的一种典型的实施方式中,提供了一种电压降的确定方法。

图1是根据本申请实施例的电压降的确定方法的流程图。如图1所示,该方法包括以下步骤:

步骤S101,获取芯片的版图数据;

步骤S102,获取上述芯片的设计参数,上述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压;

步骤S103,根据上述版图数据和上述设计参数,搭建芯片版图的脚本的运行环境,芯片版图为芯片的版图;

步骤S104,运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。

上述的电压降的确定方法,首先获取芯片的版图数据,然后获取上述芯片的预定功耗值和工作电压等设计参数;再根据上述版图数据和上述设计参数,搭建芯片版图的脚本的运行环境;最后运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。相较现有技术中,获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多、操作较繁琐,使用本申请实施例提供的方法,仅需要输入预定功耗值和工作电压便可得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降,使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。

需要说明的是,上述芯片版图为芯片设计中最底层步骤物理设计的成果,物理设计通过布局、布线技术将逻辑综合的成果转换成物理版图文件。该文件包含了各硬件单元在芯片上的形状、面积和位置信息。

需要说明的是,上述的脚本是一种纯文本保存的程序,是批处理文件的延伸,是一条条文字命令,这些文字命令是可以看到的,脚本程序在执行时,由系统的一个解释器,将其一条条的翻译成机器可识别的指令,并按照程序顺序执行,为缩短传统的编写、编译、链接、运行过程而创建的计算机编程语言就是脚本语言。几乎所有计算机系统的各个层次都有一种脚本语言,包括操作系统层等。上述的运行环境为脚本可以编译执行的环境,比如,C语言可以在MicrosoftVisualC++、MicrosoftVisualStudio、Code等中运行,MicrosoftVisualC++、MicrosoftVisualStudio、Code这些都是C语言的运行环境。本领域技术人员可以根据实际需要选择脚本的运行环境进行搭建。

在实际的应用过程中,上述设计参数还包括工作电流、沟道调制系数、工作温度范围、建立保持时间等参数。当然,上述设计参数还可以包括其他参数。

需要说明的是,在附图的流程图示出的步骤可以在诸如一组计算机可执行指令的计算机系统中执行,并且,虽然在流程图中示出了逻辑顺序,但是在某些情况下,可以以不同于此处的顺序执行所示出或描述的步骤。

根据本申请的一种具体的实施例,所述版图数据为编译器可识别的数据格式,搭建所述芯片版图的脚本的运行环境,包括:按照所述数据格式搭建所述芯片版图的脚本的运行环境。上述方法,通过获取编译器可识别的数据格式,并按照该数据该是搭建芯片版图的脚本的运行环境,进一步地保证了后续得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,进一步地方便了后续根据电压降分析芯片的布局问题。

为了进一步地保证得到电压降的流程较为简单,根据本申请的一种具体的实施例,如图3所示,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降,包括如下步骤:

步骤S201,确定参考点的坐标;

步骤S202,根据上述参考点的坐标,运行上述脚本的运行环境,得到包括上述参考点的分析区域的各上述位置点的电压降。这样进一步地保证了可以较为简单地得到各位置点的电压降,进一步地避免了现有技术中需要输入电路设计的仿真数据较多,操作较繁琐的问题,流程方便。

具体地,上述方法根据上述芯片的版图数据,来确定上述参考点的坐标,上述参考点包括上述芯片版图的电源线的中心点以及上述芯片版图的地线的中心点,通过上述参考点,在得到包括上述参考点的分析区域的各上述位置点的电压降后,可以便于技术人员确定电压降异常的位置。

根据本申请的另一种具体的实施例,根据上述参考点的坐标,运行上述脚本的运行环境,得到包括上述参考点的分析区域的各上述位置点的电压降,包括:根据上述参考点的坐标,运行上述脚本的运行环境,得到上述分析区域的上述电压降的分布示意图,上述分布示意图中,不同的颜色表征不同的电压降;根据上述分布示意图,确定各上述分析区域的各上述位置点的电压降。通过上述方法,可以得到上述分析区域的上述电压降的分布示意图,上述分布示意图中,不同的颜色表征不同的电压降,进一步地方便了后续根据电压降的分布示意图确定芯片布局的不合理处,进一步地便于后续对不合理的布局进行修改。

本申请的又一种具体的实施例中,在根据上述参考点的坐标,运行上述脚本的运行环境,得到包括上述参考点的分析区域的各上述位置点的电压降之后,上述方法还包括:根据上述分析区域的各上述位置点的电压降,确定上述分析区域中的最大的上述电压降的上述位置点对应的坐标。这样可以较为简单的得到分析区域中的最大的电压降对应的位置点坐标,便于技术人员根据该位置点坐标找到芯片布局的不合理之处,进一步地方便了后续根据电压降对芯片的布局进行分析和修改。

在实际的应用过程中,根据上述分析区域的各上述位置点的电压降,确定上述分析区域中的最大的上述电压降的上述位置点对应的坐标,包括:根据第一分析区域的各上述位置点的电压降,确定上述第一分析区域中的最大的上述电压降的上述位置点对应的坐标,其中,上述第一分析区域包括第一参考点,上述第一参考点为上述芯片版图的电源线的中心点;根据第二分析区域的各上述位置点的电压降,确定上述第二分析区域中的最大的上述电压降的上述位置点对应的坐标,其中,上述第二分析区域包括第二参考点,上述第二参考点为上述芯片版图的地线的中心点。通过上述方法,布局设计人员在布局规划阶段即可进行芯片版图的电压降的分析,进一步地保证了布局设计人员能较早地发现电源线和地线的不合理布局,便于后续地修改。

根据本申请的另一种具体的实施例,获取芯片版图的数据格式,包括:获取上述芯片版图的GDS格式数据;通过Milky-way工具将上述GDS格式数据转换为编译器可识别的上述数据格式。通过Milky-way工具将上述GDS格式数据转换为编译器可识别的数据格式,进一步地保证了后续使用编译器搭建和运行芯片版图的脚本的运行环境,仅需要输入预定功耗值和工作电压便可得到芯片版图中各位置的电压降,进一步地避免了现有的得到电压降的流程较复杂的问题。同时,使用编译器运行芯片版图的脚本的运行环境,可调成自动化模式,布局设计人员即可维护与使用,不需要专业的电压降分析工程人员来对电压降进行分析。

在实际的应用过程中,本领域技术人员可以根据实际情况选择编译器的类型,一种具体的实施例中,上述编译器为C编译器和/或C++编译器,上述可识别的数据格式包括整型、字符型、实型、空值型等数据格式。当然,对应不同的编译器,上述可识别的数据格式还可以为其他的数据格式。

本申请实施例还提供了一种电压降的确定装置,需要说明的是,本申请实施例的电压降的确定装置可以用于执行本申请实施例所提供的用于电压降的确定方法。以下对本申请实施例提供的电压降的确定装置进行介绍。

图2是根据本申请实施例的电压降的确定装置的示意图。如图2所示,该装置包括:第一获取单元10、第二获取单元20、搭建单元30和运行单元40,其中,上述第一获取单元10用于获取芯片的版图数据;上述第二获取单元20用于获取上述芯片的设计参数,上述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压;上述搭建单元30用于根据上述版图数据和上述设计参数,搭建上述芯片版图的脚本的运行环境;上述运行单元40用于运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。

上述的电压降的确定装置,通过上述第一获取单元获取芯片的版图数据,通过上述第二获取单元获取上述芯片的预定功耗值和工作电压等设计参数;根据上述版图数据和上述设计参数,通过上述搭建单元搭建上述芯片版图的脚本的运行环境;通过上述运行单元运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。相较现有技术中,获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多、操作较繁琐,使用本申请实施例提供的装置,仅需要输入预定功耗值和工作电压便可得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降,使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。

需要说明的是,上述芯片版图为芯片设计中最底层步骤物理设计的成果,物理设计通过布局、布线技术将逻辑综合的成果转换成物理版图文件。该文件包含了各硬件单元在芯片上的形状、面积和位置信息。

需要说明的是,上述的脚本是一种纯文本保存的程序,是批处理文件的延伸,是一条条文字命令,这些文字命令是可以看到的,脚本程序在执行时,由系统的一个解释器,将其一条条的翻译成机器可识别的指令,并按照程序顺序执行,为缩短传统的编写、编译、链接、运行过程而创建的计算机编程语言就是脚本语言。几乎所有计算机系统的各个层次都有一种脚本语言,包括操作系统层等。上述的运行环境为脚本可以编译执行的环境,比如,C语言可以在MicrosoftVisualC++、MicrosoftVisualStudio、Code等中运行,MicrosoftVisualC++、MicrosoftVisualStudio、Code这些都是C语言的运行环境。本领域技术人员可以根据实际需要选择脚本的运行环境进行搭建。

在实际的应用过程中,上述设计参数还包括工作电流、沟道调制系数、工作温度范围、建立保持时间等参数。当然,上述设计参数还可以包括其他参数。

根据本申请的一种具体的实施例,所述版图数据为编译器可识别的数据格式,上述搭建单元包括搭建模块,上述搭建模块用于按照所述数据格式搭建所述芯片版图的脚本的运行环境。上述装置,通过获取编译器可识别的数据格式,并按照该数据该是搭建芯片版图的脚本的运行环境,进一步地保证了后续得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,进一步地方便了后续根据电压降分析芯片的布局问题。

为了进一步地保证得到电压降的流程较为简单,根据本申请的一种具体的实施例,上述运行单元包括第一确定模块和运行模块,其中,上述第一确定模块用于确定参考点的坐标;上述运行模块用于根据上述参考点的坐标,运行上述脚本的运行环境,得到包括上述参考点的分析区域的各上述位置点的电压降。这样进一步地保证了可以较为简单地得到各位置点的电压降,进一步地避免了现有技术中需要输入电路设计的仿真数据较多,操作较繁琐的问题,流程方便。

具体地,上述方法根据上述芯片的版图数据,来确定上述参考点的坐标,上述参考点包括上述芯片版图的电源线的中心点以及上述芯片版图的地线的中心点,通过上述参考点,在得到包括上述参考点的分析区域的各上述位置点的电压降后,可以便于技术人员确定电压降异常的位置。

根据本申请的另一种具体的实施例,上述运行模块包括运行子模块和第一确定子模块,其中,上述运行子模块用于根据上述参考点的坐标,运行上述脚本的运行环境,得到上述分析区域的上述电压降的分布示意图,上述分布示意图中,不同的颜色表征不同的电压降;上述第一确定子模块用于根据上述分布示意图,确定各上述分析区域的各上述位置点的电压降。通过上述装置,可以得到上述分析区域的上述电压降的分布示意图,上述分布示意图中,不同的颜色表征不同的电压降,进一步地方便了后续根据电压降的分布示意图确定芯片布局的不合理处,进一步地便于后续对不合理的布局进行修改。

本申请的又一种具体的实施例中,上述运行单元还包括第二确定模块,上述第二确定模块用于在根据上述参考点的坐标,运行上述脚本的运行环境,得到包括上述参考点的分析区域的各上述位置点的电压降之后,根据上述分析区域的各上述位置点的电压降,确定上述分析区域中的最大的上述电压降的上述位置点对应的坐标。这样可以较为简单的得到分析区域中的最大的电压降对应的位置点坐标,便于技术人员根据该位置点坐标找到芯片布局的不合理之处,进一步地方便了后续根据电压降对芯片的布局进行分析和修改。

在实际的应用过程中,上述第二确定模块包括第二确定子模块和第三确定子模块,其中,上述第二确定子模块用于根据第一分析区域的各上述位置点的电压降,确定上述第一分析区域中的最大的上述电压降的上述位置点对应的坐标,其中,上述第一分析区域包括第一参考点,上述第一参考点为上述芯片版图的电源线的中心点;上述第三确定子模块用于根据第二分析区域的各上述位置点的电压降,确定上述第二分析区域中的最大的上述电压降的上述位置点对应的坐标,其中,上述第二分析区域包括第二参考点,上述第二参考点为上述芯片版图的地线的中心点。通过上述装置,布局设计人员在布局规划阶段即可进行芯片版图的电压降的分析,进一步地保证了布局设计人员能较早地发现电源线和地线的不合理布局,便于后续地修改。

根据本申请的另一种具体的实施例,上述第一获取单元包括获取模块和转换模块,其中,上述获取模块用于获取上述芯片版图的GDS格式数据;上述转换模块用于通过Milky-way工具将上述GDS格式数据转换为编译器可识别的上述数据格式。通过Milky-way工具将上述GDS格式数据转换为编译器可识别的数据格式,进一步地保证了后续使用编译器搭建和运行芯片版图的脚本的运行环境,仅需要输入预定功耗值和工作电压便可得到芯片版图中各位置的电压降,进一步地避免了现有的得到电压降的流程较复杂的问题。同时,使用编译器运行芯片版图的脚本的运行环境,可调成自动化模式,布局设计人员即可维护与使用,不需要专业的电压降分析工程人员来对电压降进行分析。

在实际的应用过程中,本领域技术人员可以根据实际情况选择编译器的类型,一种具体的实施例中,上述编译器为C编译器和/或C++编译器,上述可识别的数据格式包括整型、字符型、实型、空值型等数据格式。当然,对应不同的编译器,上述可识别的数据格式还可以为其他的数据格式。

上述电压降的确定装置包括处理器和存储器,上述第一获取单元、第二获取单元、搭建单元和运行单元等均作为程序单元存储在存储器中,由处理器执行存储在存储器中的上述程序单元来实现相应的功能。

处理器中包含内核,由内核去存储器中调取相应的程序单元。内核可以设置一个或以上,通过调整内核参数来解决现有技术中得到电压降的流程较复杂的问题。

存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器,随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式,如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM),存储器包括至少一个存储芯片。

本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有程序,该程序被处理器执行时实现上述电压降的确定方法。

本发明实施例提供了一种处理器,上述处理器用于运行程序,其中,上述程序运行时执行上述电压降的确定方法。

本发明实施例提供了一种设备,设备包括处理器、存储器及存储在存储器上并可在处理器上运行的程序,处理器执行程序时实现至少以下步骤:

步骤S101,获取芯片版图的数据格式,上述数据格式为编译器可识别的数据格式;

步骤S102,确定上述芯片版图的设计参数,上述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压;

步骤S103,根据上述设计参数,按照上述数据格式搭建上述芯片版图的脚本的运行环境;

步骤S104,运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。

本文中的设备可以是服务器、PC、PAD、手机等。

本申请还提供了一种计算机程序产品,当在数据处理设备上执行时,适于执行初始化有至少如下方法步骤的程序:

步骤S101,获取芯片版图的数据格式,上述数据格式为编译器可识别的数据格式;

步骤S102,确定上述芯片版图的设计参数,上述设计参数至少包括预定功耗值和工作电压;

步骤S103,根据上述设计参数,按照上述数据格式搭建上述芯片版图的脚本的运行环境;

步骤S104,运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降。

在本发明的上述实施例中,对各个实施例的描述都各有侧重,某个实施例中没有详述的部分,可以参见其他实施例的相关描述。

在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的技术内容,可通过其它的方式实现。其中,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如上述单元的划分,可以为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,单元或模块的间接耦合或通信连接,可以是电性或其它的形式。

上述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。

上述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本发明的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可为个人计算机、服务器或者网络设备等)执行本发明各个实施例上述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、只读存储器(ROM,Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM,Random Access Memory)、移动硬盘、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

从以上的描述中,可以看出,本申请上述的实施例实现了如下技术效果:

1)、本申请提供了一种电压降的确定方法,上述的电压降的确定方法,首先获取芯片版图的数据格式,上述数据格式为编译器可识别的数据格式,然后确定上述芯片版图的预定功耗值和工作电压等设计参数;再根据上述设计参数,按照上述数据格式搭建上述芯片版图的脚本的运行环境;最后运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降,使用该方法,避免了现有技术中,获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多,操作较繁琐的问题,使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。

2)、本申请还提供了一种电压降的确定装置,上述的电压降的确定装置,首先通过上述第一获取单元获取芯片版图的数据格式,上述数据格式为编译器可识别的数据格式,然后通过上述第二获取单元确定上述芯片版图的预定功耗值和工作电压等设计参数;再根据上述设计参数,通过上述搭建单元按照上述数据格式搭建上述芯片版图的脚本的运行环境;最后通过上述运行单元运行上述脚本的运行环境,得到上述芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降,使用上述装置,避免了现有技术中,获取电压降需要输入电路设计的仿真数据较多,操作较繁琐的问题,使得得到芯片版图的至少部分区域中的各位置点的电压降的流程比较简单,便于后续根据电压降分析芯片的布局问题。

以上所述仅为本申请的优选实施例而已,并不用于限制本申请,对于本领域的技术人员来说,本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。

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