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基于大数据分析由绝缘破坏引起的故障原因的装置和方法

摘要

本发明提供一种基于大数据分析由绝缘破坏引起的故障原因的装置和方法。当测量绝缘电阻值为最小正常值以下时,生成故障诱发因子数据集、正常状态数据集或恢复状态数据集,并且将故障诱发因子数据集、正常状态数据集或恢复状态数据集传送到大数据服务器。通过从大数据服务器接收与数据集对应的数据,针对故障诱发因子计算影响指标,并且基于影响指标选择故障诱发因子来分析故障原因。

著录项

  • 公开/公告号CN112441020A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-03-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010432781.7

  • 发明设计人 朴贤秀;

    申请日2020-05-20

  • 分类号B60W50/02(20120101);

  • 代理机构11002 北京路浩知识产权代理有限公司;

  • 代理人赵爱玲;赵赫

  • 地址 韩国首尔

  • 入库时间 2023-06-19 10:06:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-08

    实质审查的生效 IPC(主分类):B60W50/02 专利申请号:2020104327817 申请日:20200520

    实质审查的生效

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