技术领域
本发明涉及使用OTA(Over The Air：空中下载)环境的电波暗箱来测定被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性的温度测试装置及温度测试方法。
背景技术
近年来，伴随着多媒体的发展，积极地生产安装有蜂窝、无线LAN等无线通信用的天线的无线终端(智能手机等)。今后，尤其寻求收发与使用毫米波段的宽带域信号的IEEE802.11ad或5G蜂窝等相对应的无线信号的无线终端。
在无线终端的设计开发公司或其制造工厂中，针对无线终端所具备的无线通信天线，进行以下性能测试：测定按每个通信标准所规定的发送电波的输出电平、接收灵敏度，并判定是否满足给定的基准。
随着从4G或者4G Advance向5G的代际过渡，上述性能测试的测试方法也不断变化。例如，在将5G NR系统(新无线系统(New Radio System))用的无线终端(以下称为5G无线终端)作为被测对象(被测设备(Device Under Test：DUT))的性能测试中，在4G或4GAdvance等的测试中作为主流的对DUT的天线端子和测试装置进行有线连接的方法出于如下理由而无法使用，即：因对高频电路附加天线端子而导致的特性劣化、或者阵列天线的元件数量众多，出于空间方面/成本方面的考虑，将天线端子附加于全部元件并不现实等理由。因此，进行所谓的OTA测试，即，将DUT与测试用天线一起收容在不受周围的电波环境影响的电波暗箱之中，并通过无线通信来进行从测试用天线向DUT的测试信号的发送以及由测试用天线对来自接收到测试信号的DUT的被测信号的接收(例如，参考专利文献1)。
作为OTA测试环境，除了常温下的测试以外，还需要使DUT周围的温度转到高温(例如55℃)和低温(例如-10℃)的温度测试。此时，为了保持DUT周围的温度而在DUT周围安装由绝热材料制成的绝热框体，但优选为减少由该绝热框体引起的测定结果的劣化(静区质量(Quality of quiet zone)的劣化)的绝热框体的结构。这里，所谓静区，是表示在构成OTA测试环境的电波暗箱中，DUT被测试用天线以大致均匀的振幅和相位照射的空间区域的范围的概念(例如，参考非专利文献1)。静区的形状通常为球形。通过将DUT配置于这样的静区，能够在抑制来自周围的散射波的影响的状态下进行OTA测试。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：日本特愿2018－223942
非专利文献
非专利文献1：3GPP TR38.810V16.2.0(2019-03)
发明内容
在OTA测试中一边使DUT旋转一边进行测定，但即使在附加有温度测试用的绝热框体的状态下，也期望与没有附加绝热框体的常温下的测试同样地，一边使DUT旋转一边实施测试。作为现有的温度测试装置，具有在将DUT载置于转台上，一边使测试用天线在半圆上移动一边进行测定这样的测试系统(分布式轴系统(Distributed-axes system))中，用半球形的绝热框体覆盖DUT的结构。在该结构中，搭载于DUT的被测天线越偏离旋转中心，绝热框体的面相对于在测试用天线与被测天线之间被收发的电波的行进方向越偏离垂直。电波的行进方向相对于绝热框体的面越倾斜，电波透过绝热框体的材质的距离越长，并且，镜面反射的比例越增加。
即，在上述现有的结构中，被测天线越偏离旋转中心，由绝热框体引起的测定结果的劣化(静区质量(Quality of quiet zone)的劣化)越严重。即，上述现有结构具有如下问题：并不是面向利用所谓的“黑箱”方法(Black-box approach)来测试以平板电脑为代表的尺寸相对较大且被测天线的配置不明确的终端的结构。
本发明是为了解决如上所述的现有课题而完成的，其目的在于提供一种温度测试装置及温度测试方法，在OTA测试环境下测定被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性时，能够抑制由绝热框体引起的测定结果的劣化。
为了解决上述问题，本发明所涉及的温度测试装置对具有被测天线的被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性进行测定，其中，所述温度测试装置为如下结构：具备：电波暗箱，具有不受周围的电波环境影响的内部空间；测试用天线，被收容于所述内部空间，并与所述被测天线之间发送或接收用于测定所述被测对象的发送特性或接收特性的无线信号；姿态可变机构，使配置在所述内部空间中的静区内的所述被测对象的姿态依次变化；绝热框体，被收容于所述内部空间，包围包括所述静区在内的空间区域并由绝热材料构成；温度控制装置，能够控制所述空间区域的温度；以及测定装置，进行所述被测对象的发送特性或接收特性的测定，所述绝热框体在从所述测试用天线发送来的无线信号的电波入射到所述静区之前穿过的区域，具有与入射到所述静区的所述无线信号的电波的行进方向垂直的平板状部分。
如上所述，在从测试用天线发送来的无线信号的电波入射到静区之前穿过的绝热框体的区域，形成有与入射到静区的无线信号的电波的行进方向垂直的平板状部分。通过该结构，不管被测对象内的被测天线的位置如何，在测试用天线与被测天线之间交换的电波的行进方向始终垂直于绝热框体的平板状部分。因此，与电波的行进方向相对于绝热框体的平板状部分倾斜的情况相比，电波透过绝热框体的距离成为最短，并且对于入射到绝热框体的平板状部分的平面波当中的TE偏振波分量，反射系数的绝对值成为最小。因此，本发明所涉及的温度测试装置在OTA测试环境下测定被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性时，能够抑制由穿过绝热框体的电波在绝热框体中的吸收或反射引起的电波损失、以及由反射波的干扰引起的电波强度的不确定性，因此能够抑制由绝热框体引起的测定结果的劣化(静区质量(Quality of quiet zone)的劣化)。
另外，在本发明所涉及的温度测试装置中，也可以为如下结构：所述测定装置在由所述温度控制装置控制了所述空间区域的温度的状态下，每当通过所述姿态可变机构使所述被测对象的姿态变化时，就进行所述被测对象的发送特性或接收特性的测定。
另外，在本发明所涉及的温度测试装置中，也可以为如下结构：所述姿态可变机构具有：驱动部，产生旋转驱动力；转台，通过所述驱动部的旋转驱动力而绕相互正交的两个轴中的其中一个轴旋转给定角度；支柱，从所述转台向所述一个轴的方向延伸，并通过所述驱动部的旋转驱动力而与所述转台一起旋转；以及被测对象载置部，从所述支柱的侧面向所述两个轴中的另一个轴的方向延伸，通过所述驱动部的旋转驱动力而绕所述另一个轴旋转给定角度，并用于载置所述被测对象。
通过该结构，本发明所涉及的温度测试装置通过具备作为双轴定位器的姿态可变机构，能够以被测对象的中心为旋转中心使被测对象依次旋转，以成为使被测天线朝向三维的所有方向的姿态。
另外，在本发明所涉及的温度测试装置中，也可以为如下结构：所述绝热框体包括：圆盘状的旋转部，具有供所述支柱的一部分贯通的贯通孔，并与所述转台以及所述支柱一起旋转；以及孔部，具有与所述旋转部的外径大致相等的内径，并将所述旋转部以旋转自如的方式进行收容，在所述旋转部的与所述孔部对置的侧壁面以及所述孔部的与所述旋转部对置的内壁面，分别设有用于降低所述侧壁面与所述内壁面之间的摩擦的摩擦降低部件。
通过该结构，本发明所涉及的温度测试装置通过在旋转部与孔部相互接触的部位设有摩擦降低部件，能够抑制因旋转部在旋转时与孔部之间的摩擦而使绝热框体的耐久性变差的情况。
另外，本发明所涉及的温度测试装置也可以如下结构：还具备反射器，所述反射器被收容于所述内部空间，并具有给定的旋转抛物面，所述反射器通过所述旋转抛物面来反射在配置于由所述旋转抛物面规定的焦点位置的所述测试用天线与所述被测天线之间被收发的无线信号的电波。
通过该结构，本发明所涉及的温度测试装置由于在被测对象的被测天线与测试用天线之间的电波传播路径配置有具有给定的旋转抛物面的反射器，所以与利用测试用天线和被测对象对置而收发信号的直接远场法的OTA测试相比，能够以紧凑化的结构执行OTA测试。
另外，本发明所涉及的温度测试方法使用对具有被测天线的被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性进行测定的温度测试装置，其中，为如下结构：所述温度测试装置的特征在于，具备：电波暗箱，具有不受周围的电波环境影响的内部空间；测试用天线，被收容于所述内部空间，并与所述被测天线之间发送或接收用于测定所述被测对象的发送特性或接收特性的无线信号；姿态可变机构，使配置在所述内部空间中的静区内的所述被测对象的姿态依次变化；绝热框体，被收容于所述内部空间，包围包括所述静区在内的空间区域并由绝热材料构成；温度控制装置，能够控制所述空间区域的温度；以及测定装置，进行所述被测对象的发送特性或接收特性的测定，所述绝热框体在从所述测试用天线发送来的无线信号的电波入射到所述静区之前穿过的区域，具有与入射到所述静区的所述无线信号的电波的行进方向垂直的平板状部分，所述温度测试方法包括：温度控制步骤，控制所述空间区域的温度；姿态可变步骤，使配置在所述静区内的所述被测对象的姿态依次变化；以及测定步骤，在通过所述温度控制步骤控制了所述空间区域的温度的状态下，每当通过所述姿态可变步骤使所述被测对象的姿态变化时，就进行所述被测对象的发送特性或接收特性的测定。
通过该结构，本发明所涉及的温度测试方法能够抑制由绝热框体引起的测定结果的劣化，并且能够在OTA测试环境下测定被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性。
本发明提供一种温度测试装置及温度测试方法，在OTA测试环境下测定被测对象的发送特性或接收特性的温度依赖性时，能够抑制由绝热框体引起的测定结果的劣化。
附图说明
图1是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置整体的概略结构的图。
图2是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置的功能结构的框图。
图3是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置的整合控制装置的功能结构的框图。
图4是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置中的NR系统模拟器的功能结构的框图。
图5(a)～(b)是用于说明天线AT与无线终端之间的电波传播中的近场以及远场的示意图。
图6是表示具有与在本发明的实施方式所涉及的温度测试装置的OTA室(chamber)中采用的反射器同样的旋转抛物面的抛物面(parabola)的信号路径结构的示意图。
图7是表示具有与在本发明的实施方式所涉及的温度测试装置的OTA室中采用的反射器同样的旋转抛物面的偏置抛物面的信号路径结构的示意图。
图8是表示在本发明的实施方式所涉及的温度测试装置的OTA室中采用的DUT的发送特性和接收特性测定用的多个测试用天线的使用频率分类的表图。
图9是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置中的绝热框体的概略结构的立体图。
图10是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置中的绝热框体的平板状部分的配置的示意图。
图11是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置中的设置于绝热框体的摩擦降低部件的配置的示意图。
图12是用于说明本发明的实施方式所涉及的温度测试装置中的由温度控制装置进行的绝热框体的内部的温度控制的示意图。
图13是表示本发明的实施方式所涉及的温度测试装置中的DUT的发送特性和接收特性测定处理的流程图。
标号说明
1 温度测试装置
6 测试用天线
7 反射器
10 整合控制装置
17 DUT姿态控制部
18 温度控制部
20 NR系统模拟器
30 温度控制装置
40 信号处理部
50 OTA室
51 内部空间
56 姿态可变机构
56a 驱动部
56b 转台
56c 支柱
56d DUT载置部
60 天线自动配置单元
70 绝热框体
70a 平板状部分
71 空间区域
72 贯通孔
73 旋转部
73a 侧壁面
74 孔部
74a 内壁面
75 摩擦降低部件
100 DUT
110 天线
F 反射器的焦点位置
QZ 静区
具体实施方式
以下，使用附图对本发明所涉及的温度测试装置及温度测试方法的实施方式进行说明。另外，各附图上的各构成要素的尺寸比并不一定与实际的尺寸比一致。
本实施方式所涉及的温度测试装置1是对具有天线110的DUT100的发送特性或接收特性的温度依赖性进行测定的装置，作为整体具有如图1所示的外观结构，并且由图2所示的功能块构成。其中，在图1中示出了从侧面透视OTA室50的状态下的各构成要素的配置方式。
如图1及图2所示，本实施方式所涉及的温度测试装置1具有整合控制装置10、NR系统模拟器20、温度控制装置30、信号处理部40a、40b以及OTA室50。
整合控制装置10经由例如以太网(注册商标)等网络19与NR系统模拟器20、温度控制装置30以相互能够通信的方式连接。而且，整合控制装置10还经由网络19与用于对配置在OTA室50内的构成要素进行控制的控制单元连接。温度测试装置1具有天线自动配置控制部16、DUT姿态控制部17以作为针对OTA室50的控制单元。
整合控制装置10经由网络19对NR系统模拟器20、温度控制装置30以及针对OTA室50的控制单元进行总体控制，例如由个人计算机(PC)构成。另外，天线自动配置控制部16、DUT姿态控制部17以及对温度控制装置30进行控制的温度控制部18例如也可以如图3所示那样，设置于整合控制装置10。以下，设为整合控制装置10具有图3所示的结构来进行说明。
温度测试装置1例如以使用如图1所示的具有多个机架90a的机架结构体90，并在各机架90a载置有各构成要素的方式被运用。在图1中，列举了在机架结构体90的各机架90a分别载置有整合控制装置10、NR系统模拟器20、温度控制装置30、OTA室50的例子。
在此，为了方便，先从OTA室50的结构开始进行说明。OTA室50在进行5G用的无线终端的性能测试时实现OTA测试环境，并用作紧缩天线测试范围(Compact Antenna testRange：以下，称为“CATR”)的一例。
如图1、图2所示，OTA室50例如由具有长方体形状的内部空间51的金属制的框体主体部52构成，将DUT100和与DUT100的天线110对置的测试用天线6以防止来自外部的电波的侵入及向外部的电波的辐射的状态收容于内部空间51。作为测试用天线6，可以使用例如喇叭天线等具有方向性的毫米波用的天线。另外，测试用天线6的个数可以为一个，但以下，设为多个来进行说明。测试用天线6在与天线110之间发送或接收用于测定DUT100的发送特性或接收特性的无线信号。
在OTA室50的内部空间51还收容有：反射器7，实现将从DUT100的天线110辐射出的无线信号向测试用天线6的受光面折返的电波路径；以及绝热框体70，包围包括静区QZ在内的空间区域71并由绝热材料构成。另外，在OTA室50的内表面整个区域、即在框体主体部52的底面52a、侧面52b以及上表面52c全部面粘贴有电波吸收体55，由此增强了限制电波向外部的辐射的功能。这样，OTA室50实现了具有不受周围的电波环境影响的内部空间51的电波暗箱。本实施方式中使用的电波暗箱例如为Anechoic型。
作为被测对象的DUT100例如为智能手机等无线终端。作为DUT100的通信标准，可举出蜂窝(LTE、LTE-A、W-CDMA(注册商标)、GSM(注册商标)、CDMA2000、1xEV-DO、TD-SCDMA等)、无线LAN(IEEE802.11b/g/a/n/ac/ad等)、蓝牙(注册商标)、GNSS(GPS、Galileo、GLONASS、北斗等)、FM以及数字广播(DVB-H、ISDB-T等)。另外，DUT100可以是用于收发与5G蜂窝等对应的毫米波段的无线信号的无线终端。
在本实施方式中，DUT100是5G NR的无线终端。对于5G NR的无线终端，通过5G NR标准规定了将除了毫米波段之外还包含在LTE等中使用的其他频带的默认频带(参考图8中的“5G NR带域”)设为可通信频率范围。简而言之，DUT100的天线110发送或接收用于测定DUT100的发送特性或接收特性的默认频带(5G NR带域)的无线电信号。天线110例如为Massive-MIMO天线等阵列天线，相当于本发明中的被测天线。
具有上述可通信频率范围的5G NR无线终端具有如下结构：例如在出厂时，被设定为能够使用通过图8所示的表图中的编号1、2、3而被识别的各带域中的任一个进行通信，其后，可通过给定的设定变更操作来切换能够使用的频带。在这样的无线终端中，有时将被设定为能够使用的带域称为带内，将没有被设定为能够使用的带域称为带外。在将该无线终端作为DUT100而在OTA室50内的OTA环境下进行发送特性测定和接收特性测定的情况下，要求对上述带内和带外的所有带域进行测定。
图8是表示配置在本实施方式所涉及的OTA室50内的3个测试用天线6的能够使用的频率范围分类的表图。如图8所示，通过编号1、2和3而被识别的3个频带分别被分配为3.3GHz～5.0GHz、24.25GHz～29.5GHz、40.5GHz～43.5GHz。分配给编号1的3.3GHz～5.0GHz的频带宽度相当于由3GPP(3rd Generation Partnership Project：第三代合作伙伴计划)规定的公知的5G NR的带域列表中的例如包括n77、n78、n79的频带的一组频带宽度(频带组)。同样地，分配给编号2和3的24.25GHz～29.5GHz以及40.5GHz～43.5GHz的频带宽度相当于例如包含上述带域列表中所规定的n258、n257的频带的一组频带宽度、以及包含n259的频带的一组频带宽度。
在本实施方式中，OTA室50在内部空间51内配置有例如使用图8所示的频带分类中的分别与编号1、2、3对应的频带的3个测试用天线6。该3个测试用天线6通过图1等所示的天线自动配置单元60，逐一地依次自动配置于反射器7的焦点位置(在图1中用符号F表示)。另一方面，本实施方式所涉及的DUT100具有能够将与上述编号1、2、3分别对应的频带选择性地设定为可使用频带的结构。DUT100在OTA室50内进行的与收发有关的测定过程中，能够依次使用与上述编号1、2、3分别对应的频带，并通过依次配置于焦点位置F的测试用天线6来收发测试信号及被测信号。
接着，对OTA室50的内部空间51中的姿态可变机构56、测试用天线6、反射器7以及绝热框体70的配置方式进行说明。如图1所示，在OTA室50中，在内部空间51中的框体主体部52的底面52a设置有使配置在静区QZ内的DUT100的姿态依次变化的姿态可变机构56。姿态可变机构56例如是具备在两个轴方向上旋转的旋转机构的双轴定位器，构成在固定了测试用天线6的状态下，使DUT100以两个轴的自由度旋转这样的OTA测试系统(组合轴系统(Combined-axes system))。具体而言，姿态可变机构56具有驱动部56a、转台56b、支柱56c、作为被测对象载置部的DUT载置部56d。
驱动部56a由产生旋转驱动力的步进电机等驱动用电机构成，例如设置于底面52a。转台56b通过驱动部56a的旋转驱动力，绕相互正交的两个轴中的其中一个轴旋转给定角度。支柱56c与转台56b连结，从转台56b向一个轴的方向延伸，并通过驱动部56a的旋转驱动力而与转台56b一起旋转。DUT载置部56d从支柱56c的侧面向两个轴中的另一个轴的方向延伸，并通过驱动部56a的旋转驱动力而绕另一个轴旋转给定角度。DUT100载置于DUT载置部56d。
另外，上述的一个轴例如是相对于底面52a沿铅垂方向延伸的轴(图中的x轴)。另外，上述的另一个轴例如是从支柱56c的侧面沿水平方向延伸的轴。这样构成的姿态可变机构56能够使保持于DUT载置部56d的DUT100例如以DUT100的中心为旋转中心进行旋转，以使姿态依次变化为使天线110朝向三维的所有方向。即，本实施方式的温度测试装置1通过如上所述的姿态可变机构56，能够进行利用“黑箱”方法(Black-box approach)的测试。
在OTA室50中，在框体主体部52的所需位置分别使用保持件57、59而安装有用于与DUT100之间建立或保持链路(呼叫)的两种链路天线5、8。链路天线5是LTE用的链路天线，以非独立模式(Non-Standalone mode)来使用。另一方面，链路天线8是5G用的链路天线，以独立模式(Standalone mode)来使用。链路天线5、8以相对于被保持于姿态可变机构56的DUT100具有方向性的方式分别由保持件57、59保持。另外，也可以代替使用上述的链路天线5、8，而将测试用天线6兼用作链路天线，因此在以下，设为测试用天线6兼具链路天线的功能来进行说明。
另外，在OTA室50中，在框体主体部52的底面52a的下方位置设置天线保持机构61，该天线保持机构61将多个测试用天线6以相互分离的状态进行保持。在本实施方式中，天线保持机构61例如保持有能够收发通过图8所示的表图中的编号1～3而被识别的3个测定对象频带的无线信号的3个测试用天线6。
天线保持机构61经由动力部64安装于OTA室50的内部空间51中的底面52a。天线保持机构61与动力部64、天线自动配置控制部16(参考图2)一起构成了天线自动配置单元60。天线自动配置单元60构成本发明的天线配置单元。
搭载于OTA室50的天线自动配置单元60例如如图1、图2所示，具有天线保持机构61、动力部64、罩部67以及天线自动配置控制部16。天线保持机构61由能够以旋转轴63为中心进行旋转的旋转体62构成，在旋转体62，在以旋转轴63为中心的圆周上例如配置有3个测试用天线6。
动力部64具有：驱动用电机65，经由旋转轴63对旋转体62进行旋转驱动；以及齿轮等连结部件66，配设在该驱动用电机65与旋转轴63之间。罩部67覆盖天线保持机构61以及动力部64，使得能够限制电波从外部的侵入以及电波向外部的辐射。
在罩部67形成有开口67a。开口67a形成于如下位置：在保持于天线保持机构61的测试用天线6中的一个被配置于反射器7的焦点位置F时，能够确保从该测试用天线6向反射器7的旋转抛物面的透视的位置。
天线自动配置控制部16例如基于来自整合控制装置10的控制部11(参考图3)的指令，对驱动用电机65进行驱动，以根据通过图8所示的表图中的编号1～3而被识别的各测定对象频带，使各测试用天线6依次移动到反射器7的焦点位置F并且停止。
在OTA室50中，反射器7具有后述的偏置抛物面(参考图7)型的结构。如图1所示，反射器7使用反射器保持件58而安装于OTA腔室50的侧面52b的所需位置。反射器7以如下的位置和姿态配设，即，用旋转抛物面来接收从配置于由该旋转抛物面规定的焦点位置F的一个测试用天线6辐射的测试信号，并使该测试信号朝向保持于姿态可变机构56的DUT100反射，并且用旋转抛物面来接收由接收到上述测试信号的DUT100从天线110辐射的被测信号，并使该被测信号朝向辐射了上述测试信号的测试用天线6反射。即，反射器7经由旋转抛物面反射在测试用天线6与天线110之间收发的无线信号的电波。在本实施方式中，作为收发上述测试信号以及被测信号的测试用天线6，保持于天线保持机构61的3个测试用天线6由天线自动配置单元60依次逐一地自动配置于上述焦点位置F。
这里，参考图5～图7对将反射器7搭载于OTA室50的优点、以及反射器7的优选方式进行说明。图5是表示例如从与测试用天线6等同的天线AT辐射出的电波对无线终端100A的传播方式的示意图。无线终端100A与DUT100等同。在图5中，(a)示出了电波从天线AT向无线终端100A直接传递的情况(Direct Far Field：直接远场)的例子，(b)示出了电波从天线AT经由具有旋转抛物面的反射镜7A向无线终端100A传递的情况(CATR)的例子。
如图5(a)所示，以天线AT为辐射源的电波具有连结同相的点而成的面(波前)一边将辐射源作为中心以球状扩展一边传播的性质。此时，也会产生如用虚线所示的由散射、折射、反射等干扰引起的干涉波。此外，在距辐射源较近的距离，波前是弯曲的球面(球面波)，而在远离辐射源时，波前接近平面(平面波)。通常，需要将波前考虑为球面的区域被称为近场(NEAR FIELD)，而可以将波前视为平面的区域被称为远场(FAR FIELD)。在图5(a)所示的电波的传播中，无线终端100A在进行准确的测定方面，优选接收平面波，而不是接收球面波。
为了接收平面波，需要将无线终端100A设置于远场。这里，当将无线终端100A的最大直线尺寸设为D，并将电波的波长设为λ时，远场成为从天线AT远离2D
这样，在图5(a)所示的直接远场法中，具有天线AT与无线终端100A之间的传播距离大，而且传播损耗大的特性。因此，作为其应对方法，例如，如图5(b)所示，具有如下方法：将具有旋转抛物面的反射镜7A配置成使天线AT的电波被反射，并使该反射波到达无线终端100A的位置。根据该方法，不仅可以缩短天线AT与无线终端100A之间的距离，而且平面波的区域在由反射镜7A的镜面反射后立即从该距离扩展，因此也能够期待传播损耗的降低效果。平面波的程度可以用同相的波的相位差来表示。作为平面波的程度可允许的相位差例如为λ/16。相位差例如可以用矢量网络解析仪(VNA)来评估。
作为可用作图5(b)所示的反射镜7A的反射镜，例如存在抛物面(参考图6)或者偏置抛物面(参考图7)。如图6所示，抛物面具有相对于穿过天线中心O的轴而对称的镜面(旋转抛物面)，通过在由该旋转抛物面规定的焦点位置F设置沿旋转抛物面的方向具有方向性的一次辐射器，从而具有将从一次辐射器辐射出的电波向与上述轴向平行的方向反射的功能。相反地，抛物面通过在焦点位置F配置例如本实施方式所涉及的测试用天线6，能够使在与上述轴向平行的方向上向旋转抛物面入射的电波(例如，由DUT100发送的无线信号)被反射，并向测试用天线6引导。但是，抛物面从正面(z方向)观察到的平面形状为正圆，结构较大，不适合作为OTA室50的反射器7配置。
与此相对，如图7所示，偏置抛物面具有相对于旋转抛物面的轴而不对称的镜面(将正圆型的抛物面(参考图6)的旋转抛物面的一部分切出的形状)，通过将一次辐射器以其射束轴相对于旋转抛物面的轴例如倾斜角度α的状态设置，从而具有将从一次辐射器辐射出的电波向与旋转抛物面的轴向平行的方向反射的功能。该偏置抛物面通过在焦点位置F例如配置本实施方式所涉及的测试用天线6，能够使从该测试用天线6辐射出的电波(例如，针对DUT100的测试信号)被旋转抛物面向与该旋转抛物面的轴向平行的方向反射，并且使在与旋转抛物面的轴向平行的方向上向旋转抛物面入射的电波(例如，从DUT100发送的被测信号)被该旋转抛物面反射，并向测试用天线6引导。偏置抛物面能够配置成镜面接近垂直，与抛物面(参考图6)相比结构大幅缩小。
基于上述见解，在本实施方式所涉及的OTA室50中，如图1所示，将使用了偏置抛物面(参考图7)的反射器7配置于DUT100与测试用天线6之间的电波传播路径。反射器7以使图中由符号F所示的位置成为焦点位置的方式安装于框体主体部52的侧面52b。
反射器7和由天线保持机构61所保持的3个测试用天线6中的一个(配置于焦点位置的测试用天线6)成为测试用天线6的射束轴BS1相对于反射器7的轴RS1倾斜给定的角度α的偏置状态。这里所说的一个测试用天线6是指能够通过覆盖天线保持机构61的罩部67的开口67a来确保从反射器7的透视的测试用天线6。
反射器7在测试用天线6的射束轴BS1上具有焦点位置F，保持于天线保持机构61的旋转体62的各测试用天线6能够依次穿过可确保上述的透视的一个测试用天线6的位置、即反射器7的焦点位置F。上述倾斜角度α例如可以被设定为30度。在该情况下，测试用天线6凭借以仰角30度与反射器7对置的方式，即，与反射器7对置并以测试用天线6的接收面相对于无线信号的射束轴成直角的角度被保持于天线保持机构61。通过采用偏置抛物面型的反射器7，不仅反射器7本身较小，而且能够以镜面接近垂直的姿态进行配置，产生可缩小OTA室50的结构的优点。
接着，对收容于内部空间51的绝热框体70的优选方式进行说明。如图1和图9所示，绝热框体70由绝热材料构成，包围并密封至少包括静区QZ在内的空间区域71。在该空间区域71收容DUT100、DUT载置部56d、支柱56c的一部分。如图10所示，在从测试用天线6发送来的无线信号的电波入射到静区QZ之前穿过的绝热框体70的区域中，形成有与入射到静区QZ的无线信号的电波的行进方向垂直并且具有均匀的厚度的平板状部分70a。在图10中，虚线表示测试信号的电波的波前。该平板状部分70a优选设置在从测试用天线6发送并入射到绝热框体70的被视为平面波的测试信号的电波入射到静区QZ之前穿过的绝热框体70的全部面积的范围内。
构成绝热框体70的绝热材料优选为具有接近空气的介电常数并且介电损耗小的材料，例如可以使用发泡聚苯乙烯(EPS)、聚甲基丙烯酰亚胺硬质泡沫、聚四氟乙烯(PTFE)等泡沫。
而且，在绝热框体70设置于内部空间51的状态下，为了使搭载有DUT100的姿态可变机构56能够旋转，绝热框体70如图1及图9所示那样构成。即，绝热框体70包括：圆盘状的旋转部73，具有供支柱56c的一部分贯通的贯通孔72，并与转台56b以及支柱56c一起旋转；以及孔部74，具有与旋转部73的外径大致相等的内径，并将旋转部73以滑动旋转自如的方式进行收容。例如，通过将由绝热材料制成的绝热框体的一部分以圆盘状切除，能够容易地形成具有与旋转部73的外径大致相等的内径的孔部74。
在本实施方式的温度测试装置1中，重要的是，在尽量不使绝热框体70的内部的空间区域71的空气泄漏到外部的同时，转动搭载有DUT100的姿态可变机构56。此时，由于与姿态可变机构56一起旋转的旋转部73与孔部74的摩擦，产生由绝热材料制成的绝热框体70的耐久性变差的问题。为了解决该问题，如图11所示，优选在旋转部73的与孔部74对置的侧壁面73a和孔部74的与旋转部73对置的内壁面74a，分别设置有用于降低侧壁面73a与内壁面74a之间的摩擦的摩擦降低部件75。
这样的摩擦降低部件75优选为摩擦系数小且自润滑性高的材料，例如可以使用由聚缩醛(POM)、PTFE、超高分子量聚乙烯(UHPE)等构成的薄膜或片材。
接着，对用于控制由绝热框体70包围的空间区域71的空气的温度的结构进行说明。如图12所示，温度测试装置1具有能够将绝热框体70的空间区域71的空气的温度控制成多个给定温度的温度控制装置30。另外，在绝热框体70的内部设置有用于监视空间区域71的空气的温度的温度传感器31。温度传感器31与温度控制装置30连接。
在绝热框体70连接有管30a、30b。管30a使由温度控制装置30生成的加热或冷却后的空气从设置于绝热框体70的开口部76a流入到绝热框体70的内部。另外，管30b将随着空气从管30a的流入而被从绝热框体70的内部挤出的空气从开口部76b排出到绝热框体70的外部。温度控制装置30例如生成上述加热或冷却后的空气，以使温度传感器31的温度指示值与通过用户对操作部12(参考图3)的操作所输入的温度设定值一致。如此，温度控制装置30能够将空间区域71的空气的温度调整成例如-30℃～70℃的范围内的任意温度。
在此，参考图2～图4，对本实施方式所涉及的温度测试装置1的功能结构进行更详细的说明。在本实施方式所涉及的温度测试装置1(参考图2)中，整合控制装置10例如具有如图3所示的功能结构，NR系统模拟器20例如具有如图4所示的功能结构。NR系统模拟器20在由温度控制装置30控制了空间区域71的温度的状态下，每当通过姿态可变机构56使DUT100的姿态变化时，就进行DUT100的发送特性或接收特性的测定，构成本发明的测定装置。
如图3所示，整合控制装置10具有控制部11、操作部12、显示部13。控制部11例如由计算机装置构成。如图3所示，该计算机装置例如具有：进行用于实现温度测试装置1的功能的给定的信息处理、以NR系统模拟器20为对象的总体控制的CPU(Central ProcessingUnit：中央处理单元)11a；存储用于启动CPU11a的OS(Operating System：操作系统)、其他程序以及控制用的参数等的ROM(Read Only Memory：只读存储器)11b；存储用于使CPU11a动作的OS、应用程序的执行代码或数据等的RAM(Random AccessMemory：随机存取存储器)11c；具有输入给定信号的输入接口功能和输出给定信号的输出接口功能的外部接口(I/F)部11d；未图示的硬盘装置等非易失性存储介质；以及各种输入输出端口。外部I/F部11d经由网络19与NR系统模拟器20以能够通信的方式连接。另外，外部I/F部11d还经由网络19与OTA室50中的驱动用电机65、温度控制装置30以及姿态可变机构56连接。在输入输出端口连接有操作部12和显示部13。操作部12是用于输入命令等各种信息的功能部，显示部13是显示上述各种信息的输入画面、测定结果等各种信息的功能部。
上述计算机装置通过由CPU11a将RAM11c作为工作区域而执行存储在ROM11b中的程序，由此作为控制部11发挥功能。如图3所示，控制部11具有呼叫连接控制部14、信号收发控制部15、天线自动配置控制部16、DUT姿态控制部17以及温度控制部18。呼叫连接控制部14、信号收发控制部15、天线自动配置控制部16、DUT姿态控制部17以及温度控制部18也通过由CPU11a在RAM11c的工作区域中执行存储在ROM11b中的给定的程序来实现。
呼叫连接控制部14进行如下控制：通过驱动向反射器7的焦点位置F自动配置的测试用天线6而在测试用天线6与DUT100之间收发控制信号(无线信号)，从而在NR系统模拟器20与DUT100之间建立呼叫(能够收发无线信号的状态)。
信号收发控制部15监视操作部12中的用户操作，并以由用户进行了与DUT100的发送特性以及接收特性的测定相关的给定的测定开始操作的情况为契机，经过后述的温度控制部18的温度控制和呼叫连接控制部14的呼叫连接控制，对NR系统模拟器20发送信号发送指令。而且，信号收发控制部15进行经由测试用天线6发送测试信号的控制，并且进行发送信号接收指令并经由测试用天线6接收被测信号的控制。
天线自动配置控制部16进行如下控制：将保持于天线自动配置单元60的天线保持机构61的多个测试用天线6依次自动地配置于反射器7的焦点位置F。为了实现该控制，例如在ROM11b预先存储有天线自动配置控制表16a。例如在采用步进电机作为驱动用电机65的情况下，天线自动配置控制表16a将决定该步进电机的旋转驱动的驱动脉冲数(运转脉冲数)作为控制数据进行存储。在本实施方式中，天线自动配置控制表16a以与图8所示的例如通过编号1～3而被识别的3个测定对象频带分别对应的方式，将用于使各测试用天线6分别移动到反射器65的焦点位置F的驱动用电机65的运转脉冲数作为上述控制数据进行存储。
天线自动配置控制部16将天线自动配置控制表16a展开到RAM11c的工作区域，并基于该天线自动配置控制表16a，进行根据与各测试用天线6分别对应的测定对象频带，对天线自动配置单元60的动力部64中的驱动用电机65进行旋转驱动的控制。通过该控制，能够实现使各测试用天线6依次停止(配置)于反射器7的焦点位置F的天线自动配置控制。另外，在本实施方式中，举出了天线自动配置控制部16对驱动用电机65进行旋转驱动以使测试用天线6向一个方向旋转(参考图1)的例子，但并不限于此，也可以采用能够向相反方向或向双方向进行旋转驱动的结构。
DUT姿态控制部17对保持于姿态可变机构56的DUT100的测定时的姿态进行控制。为了实现该控制，例如在ROM11b预先存储有DUT姿态控制表17a。例如在采用步进电机作为驱动部56a的情况下，DUT姿态控制表16a将决定该步进电机的旋转驱动的驱动脉冲数(运转脉冲数)作为控制数据进行存储。
DUT姿态控制部17将DUT姿态控制表17a展开到RAM11c的作业区域，并基于该DUT姿态控制表17a，如上述那样，对姿态变化机构56进行驱动控制，以使DUT100发生姿态变化而使天线110依次朝向三维的所有方向。
温度控制部18监视操作部12中的用户操作，并以由用户进行了测定开始操作的情况为契机，向温度控制装置30发送温度控制指令。
另外，在本实施方式所涉及的温度测试装置1中，NR系统模拟器20例如如图4所示，具有信号测定部21、控制部22、操作部23、显示部24。信号测定部21具有：由信号发生部21a、数字/模拟转换器(DAC)21b、调制部21c、RF部21d的发送部21e构成的信号发生功能部；以及由RF部21d的接收部21f、模拟/数字转换器(ADC)21g、解析处理部21h构成的信号解析功能部。
在信号测定部21的信号发生功能部中，信号发生部21a生成具有基准波形的波形数据，具体而言，例如，生成I分量基带信号和作为其正交分量信号的Q分量基带信号。DAC21b将从信号发生部21a输出的具有基准波形的波形数据(I分量基带信号和Q分量基带信号)从数字信号转换为模拟信号并输出到调制部21c。调制部21c进行对I分量基带信号和Q分量基带信号分别混合本地信号，然后对两者进行合成而输出数字调制信号的调制处理。RF部21d根据从调制部21c输出的数字调制信号生成与各通信标准的频率对应的测试信号，并通过发送部21e将所生成的测试信号向DUT100输出。
另外，在信号测定部21的信号解析功能部中，RF部21d通过由接收部21f经由信号处理部40b接收从利用天线110接收到上述测试信号的DUT100发送来的被测信号，然后将该被测信号与本地信号进行混合，由此转换为中频带的信号(IF信号)。ADC21g将由RF部21d的接收部21f转换为IF信号的被测信号从模拟信号转换为数字信号并输出到解析处理部21h。
解析处理部21h进行如下处理：通过对由ADC21g输出的数字信号即被测信号进行数字处理，生成与I分量基带信号和Q分量基带信号分别对应的波形数据，然后基于该波形数据对I分量基带信号和Q分量基带信号进行解析。解析处理部21h在对DUT100进行的发送特性的测定中，例如能够测定等效各向同性辐射功率(Equivalent IsotropicallyRadiated Power：EIRP)、总辐射功率(Total Radiated Power：TRP)、寄生辐射、调制精度(EVM)、发送功率、星座图、频谱等。另外，解析处理部21h在对DUT100进行的接收特性的测定中，例如能够测定接收灵敏度、误码率(BER)、误包率(PER)等。在此，EIRP是被测天线的主射束方向的无线信号强度。另外，TRP是从被测天线辐射到空间的功率的合计值。
控制部22与上述的整合控制装置10的控制部11同样地，例如由包括CPU、RAM、ROM、各种输入输出接口的计算机装置构成。CPU进行用于实现信号发生功能部、信号解析功能部、操作部23以及显示部24的各功能的给定的信息处理或控制。
操作部23、显示部24与上述计算机装置的输入输出接口连接。操作部23是用于输入命令等各种信息的功能部，显示部24是显示上述各种信息的输入画面、测定结果等各种信息的功能部。
接着，参考图13的流程图对由本实施方式所涉及的温度测试装置1进行的DUT100的发送特性以及接收特性的测定处理进行说明。在图13中，特别地，一边将分别能够使用5GNR带域中(参考图8)的分别由编号1、编号2、编号3所示的各频带的3个测试用天线6依次配置于焦点位置F，一边进行DUT100的测定。在以下的说明中，将由编号1所示的频带称为带内1，将由编号2所示的频带称为带内2，并将由编号3所示的频带称为带内3。
另外，在图13中，对通过整合控制装置10的操作部12进行指示用于开始DUT100的发送特性以及接收特性的测定处理的测定开始操作的情况进行说明。另外，测定开始操作也可以由NR系统模拟器20的操作部23进行。
在温度测试装置1中，为了进行DUT100的发送特性以及接收特性的测定，首先需要将DUT100设置在OTA室50的内部空间51内。由此，在温度测试装置1中，作为最初的处理，由用户进行相对于OTA室50的姿态可变机构56的DUT载置部56d设置作为测试对象的DUT100的作业(步骤S1)。此时，对于天线自动配置单元60，需要使可覆盖3个测定对象频带的多个(在该例中为3个)测试用天线6保持于天线保持机构61，并且在可使各测试用天线6依次穿过反射器7的焦点位置F(参考图7)的位置设置天线保持机构61。
在进行了DUT100的设置作业之后，在整合控制装置10中，例如，控制部11监视在操作部12中是否进行了DUT100的发送特性以及接收特性的测定开始操作(步骤S2)。
这里，在判定为没有进行上述测定开始操作的情况下(步骤S2中为否)，控制部11继续进行上述步骤S2的监视。与此相对，在判定为进行了上述测定开始操作的情况下(步骤S2中为是)，控制部11中所包含的温度控制部18向温度控制装置30发送温度控制指令。温度控制装置30进行如下控制：基于上述温度控制指令，将空间区域71的空气的温度调整为与预先通过用户对操作部12的操作所输入的多个温度设定值相对应的多个给定温度中的任一温度(温度控制步骤S3)。
在通过温度控制装置30将空间区域71的温度控制为所期望的温度设定值之后，天线自动配置控制部16将表示测定对象频带的测定顺序的n设定为表示第一个测定对象频带的n＝1(步骤S4)。另外，在该例子中，n的最大值为3。
接着，天线自动配置控制部16进行使与第n个测定对象频带对应的测试用天线6自动移动(配置)到反射器7的焦点位置F的控制(步骤S5)。此时，天线自动配置控制部16从天线自动配置控制表16a读取与第n个测定对象频带(带内)对应的测试用天线6的运转脉冲数，并基于该运转脉冲数对驱动用电机65进行旋转控制。
在通过上述旋转控制，结束与第n个测定对象频带对应的测试用天线6向反射器7的焦点位置F的自动配置后，控制部11的呼叫连接控制部14使用完成了自动配置的该测试用天线6，与DUT100之间收发控制信号(无线信号)，由此实施呼叫连接控制(步骤S6)。这里，NR系统模拟器20进行如下的呼叫连接控制：经由测试用天线6向DUT100无线发送具有第n个收发测定对象频带的频率的控制信号(呼叫连接请求信号)，另一方面，接收到该呼叫连接请求信号的DUT100接收在设定被请求连接的频率后发送来的控制信号(呼叫连接应答信号)。通过该呼叫连接控制，在NR系统模拟器20与DUT100之间，确立了能够经由自动配置到反射器7的焦点位置F的测试用天线6以及反射器7收发第n个收发测定对象频带的无线信号的状态。
另外，从NR系统模拟器20接收经由测试用天线6以及反射器7发送来的无线信号的处理为下行链路(DL)处理，相反地，经由反相器7以及测试用天线6向NR系统模拟器20发送无线信号的处理为上行链路(UL)处理。测试用天线6用于执行建立链路(呼叫)的处理以及链路建立后的下行链路(DL)和上行链路(UL)的处理，并且兼具链路天线的功能。
在步骤S6中建立了呼叫连接之后，整合控制装置10的DUT姿态控制部17通过姿态可变机构56将配置在静区QZ内的DUT100的姿态控制为给定的姿态(姿态可变步骤S7)。
通过姿态可变机构56将DUT100控制为给定的姿态后，整合控制装置10的信号收发控制部15向NR系统模拟器20发送信号发送指令。在NR系统模拟器20中，进行基于上述信号发送指令，经由自动配置于反射器7的焦点位置F的测试用天线6向DUT100发送测试信号的控制(步骤S8)。
由NR系统模拟器20进行的测试信号发送控制以如下方式实施。在NR系统模拟器20(参考图4)中，接收到上述信号发送指令的控制部22控制信号发生功能部，产生用于在信号发生部21a中生成测试信号的信号。此后，在将该信号用DAC21b进行数字/模拟转换处理，然后用调制部21c进行调制处理后，由RF部21d根据数字调制信号而生成与各通信标准的频率对应的测试信号，并将该测试信号(DL数据)利用发送部21e经由测试用天线6向DUT100输出。在发送部21e和测试用天线6之间设置有信号处理部40a，信号处理部40a由上变频器、放大器、频率滤波器等构成。信号处理部40a对输出到测试用天线6的测试信号实施频率变换(上变频)、放大、频率选择的各处理。另外，信号收发控制部15进行控制，以在步骤S8中开始测试信号发送的控制后到与该测试用天线6对应的频带的DUT100的发送特性以及接收特性的测定结束为止的期间，在适当的定时发送测试信号。
与此相对，DUT100以如下方式动作：在基于步骤S7的上述姿态控制依次变化的不同姿态的状态下，由天线110接收经由测试用天线6、反射器7发送来的测试信号(DL数据)，并且发送作为针对该测试信号的应答信号的被测信号。
在步骤S8中开始发送测试信号之后，接着，信号收发控制部15进行如下处理：通过自动配置于反射器7的焦点位置F的测试用天线6来接收从接收到上述测试信号的DUT100发送并被反射器7反射的被测信号(步骤S9)。
在进行该接收处理时，经由测试用天线6接收到的被测信号输入到信号处理部40b。信号处理部40b由下变频器、放大器、频率滤波器等构成。信号处理部40b对从测试用天线6输入的被测信号实施频率变换(下变频)、放大、频率选择的各处理。
接着，NR系统模拟器20执行对由信号处理部40b进行频率转换后的被测信号进行测定的处理(测定步骤S10)。在进行该测定处理时，由信号处理部40b进行信号处理的被测信号输入到NR系统模拟器20(参考图4)中的RF部21d的接收部21f。
在NR系统模拟器20中，控制部22控制信号解析功能部，首先，将输入到RF部21d的接收部21f的被测信号转换为频率更低的IF信号。接着，控制部22进行控制，以通过ADC21g将IF信号从模拟信号转换为数字信号并输入到解析处理部21h，并通过该解析处理部21h生成与I分量基带信号和Q分量基带信号分别对应的波形数据。然后，控制部22控制解析处理部21h，并控制成基于上述所生成的波形数据来解析被测信号。
在NR系统模拟器20中，控制部22实施基于解析处理部21h对被测信号的解析结果来测定DUT100的发送特性以及接收特性的控制。例如，关于DUT100的发送特性，控制部22进行如下处理：从NR系统模拟器20发送上行链路信号发送的请求帧以作为测试信号，并基于DUT100响应于该上行链路信号发送的请求帧而作为被测信号发送的上行链路信号帧来评价DUT100的发送特性。另外，关于DUT100的接收特性，控制部22将从NR系统模拟器20作为测试信号发送来的测定用帧的发送次数与从DUT100作为被测信号向测定用帧发送的ACK及NACK的接收次数的比例作为错误率(BER)进行计算。与步骤S10中的DUT100的发送特性以及接收特性的测定控制相配合，在整合控制装置10中，例如，控制部22进行如下控制：将NR系统模拟器20的被测信号的解析结果作为在步骤S2中所控制的温度下的发送特性以及接收特性而存储于未图示的RAM等存储区域。
接着，在整合控制装置10中，例如，DUT姿态控制部17针对第n个测定对象频带，判定是否对于所期望的所有姿态已结束DUT100的发送特性以及接收特性的测定(步骤S11)。在此，在判定为针对第n个测定对象频带的测定没有结束的情况下(步骤S11中为否)，继续进行步骤S7以后的处理。
与此相对，在判定为针对第n个测定对象频带的测定已结束的情况下(步骤S11中为是)，天线自动配置控制部16判定上述n是否达到表示最后的测定对象频带(带内3)的n＝3(步骤S12)。在此，在判定为没有达到n＝3的情况下(步骤S12中为否)，天线自动配置控制部16使n的值递增(步骤S13)，继续进行步骤S5以后的处理。
与此相对，在判定为达到了n＝3的情况下(步骤S12中为是)，温度控制部18判定是否针对预先由用户设定的全部温度已结束DUT100的发送特性以及接收特性的测定(步骤S14)。在此，在判定为针对所有温度的测定没有结束的情况下(步骤S14中为否)，温度控制部18继续进行步骤S3以后的处理。
与此相对，在判定为针对预先由用户设定的全部温度已结束DUT100的发送特性以及接收特性的测定的情况下(步骤S14中为是)，整合控制装置10结束上述一系列的测定处理。
另外，在上述实施方式中，列举了例如用3个测试用天线6覆盖5G NR带域内的3个带域(参考图8)中的DUT100的收发测定的例子，但本发明并不限于此，也可以为如下结构：使用任意数量的测试用天线6来实施针对5G NR带域内的多个带域的DUT100的发送特性以及接收特性的测定。另外，对于自动配置测试用天线6的天线自动配置单元60，也不限于在上述实施方式中所说明的方式，当然可以应用各种方式，包括手动配置的单元、将多个天线固定于焦点位置F附近的单元。另外，本发明不仅可以应用于电波暗箱，也可以适用于电波暗室。另外，在上述实施方式中，设为OTA室50是采用CATR方式的室，但本发明并不限于此，OTA室50也可以是采用图5(a)所示的直接远场方式的室。
如以上所说明的那样，在本实施方式所涉及的温度测试装置1中，在从测试用天线6发送来的无线信号的电波入射到静区QZ之前穿过的绝热框体70的区域，形成有与入射到静区QZ的无线信号的电波的行进方向垂直的平板状部分70a。由此，无论DUT100内的天线110的位置如何，在测试用天线6与天线110之间交换的电波的行进方向始终与绝热框体70的平板状部分70a垂直。这里，所谓垂直，表示90±10度左右。因此，与电波的行进方向相对于绝热框体70的平板状部分70a倾斜的情况相比，电波透过绝热框体70的距离成为最短，并且对于入射到绝热框体70的平板状部分70a的平面波当中的TE偏振波分量，反射系数的绝对值成为最小。因此，本实施方式所涉及的温度测试装置1在OTA测试环境下测定DUT100的发送特性或接收特性的温度依赖性时，能够抑制由穿过绝热框体70的电波在绝热框体70中的吸收或反射引起的电波损失、以及由反射波的干扰引起的电波强度的不确定性，因此能够抑制由绝热框体70引起的测定结果的劣化(静区质量(Quality of quiet zone)的劣化)。
另外，本实施方式所涉及的温度测试装置1通过具备作为双轴定位器的姿态可变机构56，能够以DUT100的中心为旋转中心而使DUT100依次旋转，以成为使天线110朝向三维的所有方向的姿态。
另外，本实施方式所涉及的温度测试装置1通过在旋转部73与孔部74相互接触的部位设置摩擦降低部件75，能够抑制因旋转部73在旋转时与孔部74之间的摩擦而使绝热框体70的耐久性变差的情况。
另外，本实施方式所涉及的温度测试装置1由于在DUT100的天线110与测试用天线6之间的电波传播路径配置有具有给定的旋转抛物面的反射器7，所以与利用测试用天线和被测对象对置而收发信号的直接远场法的OTA测试相比，能够以紧凑化的CATR执行OTA测试。
机译： 温度测试装置，温度测试方法和程序
机译： 温度测试装置及温度测试方法
机译： 温度测试装置和温度测试方法
