首页> 中国专利> 一种激光剥蚀电感耦合等离子体质谱的定量分析方法

一种激光剥蚀电感耦合等离子体质谱的定量分析方法

摘要

本发明目的在于提供一种激光剥蚀电感耦合等离子体质谱的定量分析方法,克服基体效应,实现无基体匹配的待测样品定量分析,以提高分析准确度及效率。本发明包括以下步骤:(1)制备含有待测元素的标准溶液并滴加在待测样品表面,干燥,得到干液滴区域;(2)对干液滴区域进行激光剥蚀电感耦合等离子体质谱检测,绘制定量校准曲线,分析得到待测样品中待测元素含量。

著录项

  • 公开/公告号CN112362722A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-02-12

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海硅酸盐研究所;

    申请/专利号CN201910683470.5

  • 申请日2019-07-26

  • 分类号G01N27/64(20060101);

  • 代理机构31261 上海瀚桥专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人曹芳玲;张力允

  • 地址 200050 上海市长宁区定西路1295号

  • 入库时间 2023-06-19 09:52:39

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-07-12

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号