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提高合束参数检测精度的标校光路和标校方法

摘要

本发明公开了一种提高合束参数检测精度的标校光路和标校方法,标校光路包括合束装置和主导光镜,主导光镜的漏光光路上设置监视分光镜,监视分光镜的两路发射光路上分别设置检测分光镜和合束观测装置;所述检测分光镜的发射光路上分别设置指向检测装置和位置检测装置;标校方法包括(Ⅰ)激光束的精准合束;(Ⅱ)基准激光束的参数调整;(Ⅲ)基准激光束的信息采集;(Ⅳ)其余激光束的参数调整;(Ⅴ)数据更新;(Ⅵ)重启控制系统等步骤。本发明标校光路可以进行合束参数检测影响因素分析研究,实现理论研究和试验结果的相互验证,光路调节方便,可操作性强;标校方法简单直接,可大大提高合束参数检测的精度和准确性。

著录项

  • 公开/公告号CN112284531A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-29

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 核工业理化工程研究院;

    申请/专利号CN202011467030.5

  • 发明设计人 刘丽娜;安振杰;孙亮;刘英智;

    申请日2020-12-14

  • 分类号G01J1/42(20060101);G01J1/02(20060101);G01J1/04(20060101);

  • 代理机构12103 天津市宗欣专利商标代理有限公司;

  • 代理人马倩

  • 地址 300180 天津市河东区津塘路168号

  • 入库时间 2023-06-19 09:44:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2023-10-27

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01J 1/42 专利申请号:2020114670305 申请公布日:20210129

    发明专利申请公布后的驳回

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