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一种QR码污损位置探测符的检测方法

摘要

本发明提供了一种QR码污损位置探测符的检测方法,该方法涉及QR码识别技术领域,更具体地,涉及QR码污损位置探测符的检测方法。该方法基于位置探测符的比例特征,以位置探测符满足的不同比例关系及其单位模块尺寸的偏差程度对候选位置探测符评分,选取最终得分最高的3个候选位置探测符作为QR码的位置探测符。该检测方法提高了对内圈深色区域相对完整、外圈深色区域与中间浅色区域受一定程度污损的位置探测符的检测能力。

著录项

  • 公开/公告号CN112241643A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-01-19

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 武汉理工大学;

    申请/专利号CN201910658489.4

  • 发明设计人 余先涛;秦岩;

    申请日2019-07-17

  • 分类号G06K7/14(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 430070 湖北省武汉市洪山区珞狮路122号

  • 入库时间 2023-06-19 09:35:27

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-27

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G06K 7/14 专利申请号:2019106584894 申请公布日:20210119

    发明专利申请公布后的视为撤回

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