FPGA芯片内的测试激励生成单元

摘要

本发明公开了一种FPGA芯片内的测试激励生成单元。该测试激励生成单元包括：激励生成模块，用于生成被测用户逻辑单元所需要的激励信号或控制信号；PCIE模块，用于使激励生成模块和逻辑分析模块与外部计算机进行通信。本发明的测试激励生成单元可以在FPGA芯片內部产生被测用户逻辑单元所需要的激励信号或控制信号，从而能够高效灵活地为被测用户逻辑单元提供激励信号或控制信号。