一种存储器测试方法、存储器芯片及存储器系统

摘要

本发明公开了一种存储器测试方法、存储器芯片及存储器系统，所述测试方法，依据存储芯片的不同性能进行不同测试条件的测试；所述不同测试条件至少为两个。所述不同测试条件至少包括第一测试条件和第二测试条件；所述第二测试条件比第一测试条件更严格。本发明的优点是：通过对不同的测试条件进行分类测试，依据不同测试条件的难易程度和对芯片性能的影响程度进行区别的测试和分类，一方面能够对芯片高效的分类测试，从而节省测试时间和测试成本，另一方面能够充分发挥存储器的性能，发掘在特定测试条件下存储器芯片的最佳性能。