首页> 中国专利> 一种基于关断延迟时间的IGBT结温检测系统与检测方法

一种基于关断延迟时间的IGBT结温检测系统与检测方法

摘要

本发明公开了一种基于IGBT关断延迟时间的结温测量系统及方法,系统包括待测IGBT模块分别连接IGBT控制单元、电压VeE采集单元、集电极电流采集单元和集射极电压采集单元。方法为:通过离线测试方式标定IGBT关断延迟时间、集电极电流以及结温的离线数据,然后进行拟合;在线测量IGBT的发射极电流以及关断延迟时间,结合拟合得到的IGBT结温与关断延迟时间、集电极电流的关系,实现IGBT结温的在线检测。本发明对IGBT关断延迟时间与结温的关系进行线性化处理,建立其斜率与截距关于IGBT正向导通电流的函数模型。并利用时间数字转换技术,将时间信号转换为数字信号;仅需采集发射极寄生电感上感应电压和发射极电流,具有建模简单,容易测量,精度高等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN112034320A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN202010371149.6

  • 发明设计人 徐国卿;王玺年;

    申请日2020-05-06

  • 分类号G01R31/26(20140101);

  • 代理机构31205 上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人何文欣

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-06-19 09:06:00

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号