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一种光纤式二维材料光热效应测量装置

摘要

本发明涉及二维材料光热特性检测领域,具体提供了一种光纤式二维材料光热效应测量装置,第一二维材料部和第二二维材料部为待测光热效应的二维材料,第一二维材料部贴附与第一光纤的端面,第二二维材料部贴附与第二光纤的端面,敏感材料设置于第一二维材料部和第二二维材料部之间。应用时,第一二维材料部和第二二维材料部吸收光升温,改变敏感材料的温度,改变敏感材料的折射率,从而改变敏感材料的共振波长,通过入射光的强度与共振波长之间的关系确定待测二维材料的光热效应。因为敏感材料的共振波长对其折射率非常敏感,所以本发明具有探测灵敏度高的优点。另外本发明是基于光纤的,光路简单,装置尺寸小。

著录项

  • 公开/公告号CN112014327A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-12-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 西安柯莱特信息科技有限公司;

    申请/专利号CN202010932825.2

  • 发明设计人 不公告发明人;

    申请日2020-09-08

  • 分类号G01N21/17(20060101);G01N21/25(20060101);

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 710119 陕西省西安市高新区高新6路立人科技园1幢1单元10401-276室

  • 入库时间 2023-06-19 09:04:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-08

    发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01N21/17 专利申请号:2020109328252 申请公布日:20201201

    发明专利申请公布后的撤回

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