检测测试位与测试机接口是否接错的方法及芯片测试系统

摘要

本发明公开一种检测芯片测试板的测试位与测试机接口是否接错的方法以及芯片测试系统，适用于芯片测试板具有多个芯片测试位，且各个芯片测试位分别通过连接器与测试机的相应接口接线连接来实现芯片与测试机连接的情形。本发明具体是通过将各个芯片测试位上的连接器分别串联一不同阻值的电阻，然后由测试机输出激励信号至各个电阻，并采集各个电阻的响应信号，最后根据各个电阻的响应信号是否符合其相应的预设信号来判断各个芯片测试位的连接器与测试机的各个接口之间是否接错，可以避免由于芯片测试位的连接器与测试机接口接错而导致的测试机将各个芯片测试位的芯片的测试结果弄混，进而避免出现下料混料。