提高SSD可测试性覆盖率的方法、装置、设备及介质

摘要

本发明公开了提高SSD可测试性覆盖率的方法、装置、设备及介质，其中方法包括：建立库模型的管脚描述；对工具认为不可测试的点进行预处理，找出明显的工具认为不可测试的点；对找出的工具认为不可测试的点进行分析，以找出可以转成可测试的点。本发明通过对工具认为不可测试的点进行建模、分析，将一些工具认为不可测试的点变成可测试的点，提高了覆盖率，极大的提高了测试效率和准确性。