一种基于CIP数据质量控制的云微粒子分类方法

摘要

本发明涉及一种基于CIP数据质量控制的云微粒子分类方法，主要包括首先对CIP图像进行预处理，然后对二值化的CIP图像进行云微粒子图像质量控制，接着CIP图像进行分割处理，建立基于迁移学习的深度神经网络分类模型，由于现有方法中缺乏对CIP数据进行图像质量控制并结合深度神经网络对CIP云微粒子图像进行分类，通过该方法可有效的提高对CIP云微粒子图像分类准确率。