一种用于电子产品EMC传导发射的测试系统及方法

摘要

本发明涉及一种用于电子产品EMC传导发射的测试系统及方法，所述测试系统包括电源、采集设备以及待测电子产品，所述电源与所述待测电子产品连接，所述采集设备的探头连接至所述电源与所述待测电子产品之间的端口，所述采集设备将采样获得的时域波形数据通过预设软件进行FFT频域分析以获得频域幅值，并根据所述频域幅值对所述待测电子产品进行变更，并对所述待测电子产品进行多次采样和FFT频域分析以达到变更后的频域幅值降低到预期值以下。本发明的一个或多个实施例可有效降低电子产品EMC测试成本，缩短了产品开发整改周期，提高开发效率，并且测试灵活，可针对不同的信号线或电源线做独立分析。