公开/公告号CN111678974A
专利类型发明专利
公开/公告日2020-09-18
原文格式PDF
申请/专利权人 公安部物证鉴定中心;中国医学科学院药物研究所;
申请/专利号CN202010079710.3
申请日2020-02-04
分类号G01N27/64(20060101);
代理机构11245 北京纪凯知识产权代理有限公司;
代理人关畅
地址 100000 北京市西城区木樨地南里17号
入库时间 2023-06-19 08:17:40
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2023-08-15
授权
发明专利权授予
机译: 低密度X射线计算机断层成像设备检测器和能量鉴别类型匹配的检测器,用于辅助计算机X射线断层成像的散射评估,X射线计算机X射线断层成像设备及其控制方法
机译: 成像质谱法的异物混合时间鉴别方法
机译: 一种荧光光谱鉴别成像的方法