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一种基于Mie氏散射理论的颗粒粒度测量设备

摘要

本发明公开了一种基于Mie氏散射理论的颗粒粒度测量设备,具体涉及颗粒粒度测量方法领域,包括平行光产生模块、样品分散模块、光散射采集模块、电控二维导台和数据处理模块;平行光产生模块、样品分散模块和光散射采集模块从左到右呈一字型分布。本发明采用面阵CCD作为接收器件,获取艾里斑图像,提取其位置信息,实现图像引导对中,并求取对中修正参数,提高测量结果的准确度,通过设计二维导台控制面阵CCD位置,拍摄不同位置的多幅图像,且利用图像拼接技术,采集大角度光散射能量图,利用图像处理方法,动态划分散射角,提高粒度测量的分辨率,利用神经网络原理,改进传统反演算法,提高算法的精确度、速度和可靠性。

著录项

  • 公开/公告号CN111650100A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-09-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 辽东学院;

    申请/专利号CN202010548966.4

  • 发明设计人 杨亮;

    申请日2020-06-16

  • 分类号G01N15/02(20060101);G01N21/03(20060101);G01N21/11(20060101);G01N21/49(20060101);

  • 代理机构41176 郑州豫原知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人李天丽

  • 地址 118001 辽宁省丹东市振安区临江后街116号

  • 入库时间 2023-06-19 08:14:27

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