一种OCT系统轴向分辨率测量方法

摘要

本发明提供了一种OCT系统轴向分辨率测量方法，包括如下步骤：将弱相干光分成参考光和采样光，所述参考光经参考臂的反射镜反射回OCT系统，所述采样光经光纤透镜和采样物反射回OCT系统，反射回到系统的采样光和参考光在OCT系统中发生干涉形成干涉光信号；将所述干涉光信号转换为电信号，并对所述电信号进行处理，得到FFT频谱；将所述采样物远离所述光纤透镜移动位移Δz，所述FFT频谱峰值对应的序列号变化为ΔN；所述Δz和所述ΔN的比值即为OCT系统的轴向分辨率。本发明获得OCT系统轴向分辨率的方法便捷、有效、低成本，并且本发明的测量方法可用于不同波长、频率的OCT系统，具有普遍适用性。