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校正分析传感器测量数据的方法和校正测量数据的传感器

摘要

本发明涉及一种用于校正分析传感器的测量数据的方法和校正测量数据的传感器。该方法包括以下步骤:提供具有第一传感器单元(2)、数据存储器(3)、和计算单元(4)的分析传感器(1),其中,数据存储器(3)具有传感器特定和/或传感器类型特定的参数数据,其表示分析传感器(1)的预定应用领域;通过第一传感器单元(2)收集测量数据;通过计算单元(4)从数据存储器(3)中读取传感器特定的参数数据;通过计算单元(4)借助于传感器特定的参数数据校正收集的测量数据,以便生成校正的测量数据。

著录项

  • 公开/公告号CN111795715A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2020-10-20

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN202010264383.9

  • 发明设计人 迈克尔·汉克;

    申请日2020-04-07

  • 分类号G01D18/00(20060101);

  • 代理机构11219 中原信达知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人穆森;戚传江

  • 地址 德国盖林根

  • 入库时间 2023-06-19 08:00:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-08-09

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01D18/00 专利申请号:2020102643839 申请公布日:20201020

    发明专利申请公布后的视为撤回

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