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直流激励下板内连接型间歇故障测试方法

摘要

本发明公开了一种直流激励下板内连接型间歇故障测试方法,目的是解决复杂电子装备板内连接型间歇故障测试漏检率高、效率低的问题。技术方案是先搭建由间歇故障电压耦合模块、信号放大模块、信号比较模块和数据处理模块组成的间歇故障检测系统,并构建测试通路划分模块;由测试通路划分模块对被测电路板的板内连接型间歇故障测试通路进行划分,得到待检测的测试通路集合TL;间歇故障检测系统对TL中测试通路进行间歇故障检测,得到每条测试通路在一段时间内发生间歇故障的总次数。采用本发明可以检测到持续时间较短的间歇故障并统计得到一段时间内间歇故障发生的次数,测试效率高,避免漏检,且能够最大限度地保证电路板的完好性。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-12

    授权

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  • 2019-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01R31/28 申请日:20180528

    实质审查的生效

  • 2018-12-11

    公开

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