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一种基于SAR ADC的校准方法及SAR ADC系统

摘要

本文公布了一种基于SAR ADC的校准方法及SAR ADC系统,包括:对同一输入信号采样两次,并在两次采样的所述同一输入信号上分别叠加方向相反的扰动信号,得到两个量化结果;将所述两个量化结果在数字域相减,并利用最小均方LMS算法调整电容阵列中每比特电容的权重值,驱动误差趋近于0。本申请不仅校准速度快、精度高,而且能够实现片上集成。

著录项

  • 公开/公告号CN108988860A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-12-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 深圳市中兴微电子技术有限公司;

    申请/专利号CN201710399407.X

  • 发明设计人 李艳辉;郑宇亮;

    申请日2017-05-31

  • 分类号

  • 代理机构北京安信方达知识产权代理有限公司;

  • 代理人孙敬霞

  • 地址 518055 广东省深圳市南山区西丽街道留仙大道中兴工业园

  • 入库时间 2023-06-19 07:38:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-01-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):H03M1/10 申请日:20170531

    实质审查的生效

  • 2018-12-11

    公开

    公开

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