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X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用

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本发明属于化工分析处理技术领域，涉及一种X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法、氢氧化铝及其应用。本发明的X射线荧光光谱法分析氢氧化铝中成分含量的方法，包括以下步骤：研磨；粉末压片；采用X射线荧光光谱法，测定样片中各成分的发射强度，利用已建立的各成分的工作曲线，进行待测氢氧化铝样片中Al

著录项

公开/公告号CN108802084A

专利类型发明专利
公开/公告日2018-11-13

原文格式PDF
申请/专利权人中国南玻集团股份有限公司;河北南玻玻璃有限公司;
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申请/专利号CN201810604889.2
发明设计人李欣;庞振辉;丁天龙;贺立侠;吴宏;王长军;
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申请日2018-06-12
分类号
代理机构北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人李进
地址 518000 广东省深圳市招商街道工业六路一号南玻大厦
入库时间 2023-06-19 07:11:01

法律信息

法律状态公告日

法律状态信息

法律状态
2018-12-07

实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/223 申请日:20180612

实质审查的生效
2018-11-13

公开

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