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一种增强太赫兹电光取样技术探测灵敏度的装置及方法

摘要

本发明公开一种增强太赫兹电光取样技术探测灵敏度的装置及方法。本发明装置包括:线偏振器,用于将探测激光转换为线偏振态;电光晶体,用于将探测激光由线偏振态转换为椭圆偏振态;布儒斯特窗口,用于去除探测激光中多余的s偏振分量;四分之一波片,用于将探测激光转换为近似圆偏振态;渥拉斯顿棱镜,用于分离探测激光中的s偏振分量及p偏振分量;平衡光电探测器,用于测量探测激光中的s偏振分量及p偏振分量的强度差值。本发明还具体提供了增强太赫兹电光取样技术探测灵敏度的方法。本发明利用布儒斯特窗口的偏振态相关衰减特性,去除探测激光信号中包含的无用信息分量,在不需要提高探测激光能量的基础上增强电光取样技术的探测灵敏度。

著录项

  • 公开/公告号CN108106723A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2018-06-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京无线电计量测试研究所;

    申请/专利号CN201711364883.4

  • 申请日2017-12-18

  • 分类号G01J1/04(20060101);G01J1/42(20060101);G01J11/00(20060101);

  • 代理机构11257 北京正理专利代理有限公司;

  • 代理人付生辉

  • 地址 100854 北京市海淀区北京142信箱408分箱

  • 入库时间 2023-06-19 05:28:32

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01J1/04 申请日:20171218

    实质审查的生效

  • 2018-06-01

    公开

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