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基于数控系统二次开发的零件形位公差在线测量方法

摘要

本发明提供基于数控系统二次开发的零件形位公差在线测量方法,包括:OCX控件开发;利用界面配置工具配置界面;嵌入式脚本程序开发,建立与数控系统的通讯,同时调用OCX控件封装的功能,对零件的形位公差进行分析计算;启动测量功能;数控设备执行测量程序,检测探头测量零件;对测量数据进行分析,获得零件形位公差;显示测量结果。本发明提供的基于数控系统二次开发的零件形位公差在线测量方法,将形位公差的测量过程封装在数控子程序的执行之中,可以实现零件生产过程中形位公差的高效检测,有效避免了人工检测过程中的错检、漏检问题的发生,提高了零件检验效率;对零件生产过程数据进行了有效保存,为零件生产过程质量追溯提供了数据依据。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-03

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):B23Q17/22 申请公布日:20180508 申请日:20171128

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2018-06-01

    实质审查的生效 IPC(主分类):B23Q17/22 申请日:20171128

    实质审查的生效

  • 2018-05-08

    公开

    公开

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