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一种基于微纳荧光颗粒的薄膜热导率测量系统

摘要

本发明提供一种基于微纳荧光颗粒的薄膜热导率测量系统,所述测量系统至少包括:样品结构模块、成像光路模块以及激发射和光谱测量模块;所述样品结构模块至少包括衬底、待测薄膜、吸收热源和微纳荧光颗粒;所述待测薄膜置于所述衬底上,所述吸收热源和微纳荧光颗粒放置在所述待测薄膜表面;或者所述微纳荧光颗粒直接放置在所述衬底上;所述激光发射和光谱测量模块安装在所述样品结构模块的上方,用于照射待测薄膜以使所述吸收热源吸收激光能量产生热量,同时使微纳荧光颗粒受到激光激发产生荧光,并对光谱进行测量。利用本发明的测量系统可以实现对微纳米薄膜热导率的无损、便捷、可靠测量。

著录项

  • 公开/公告号CN107144596A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-09-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院上海高等研究院;

    申请/专利号CN201710370078.6

  • 申请日2017-05-23

  • 分类号

  • 代理机构上海光华专利事务所;

  • 代理人唐棉棉

  • 地址 201210 上海市浦东新区海科路99号

  • 入库时间 2023-06-19 03:12:05

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-01-17

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N25/20 申请公布日:20170908 申请日:20170523

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2017-10-10

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N25/20 申请日:20170523

    实质审查的生效

  • 2017-09-08

    公开

    公开

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