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用于内孔参数测量装置测头长度校准的球面环规及测头长度校准方法

摘要

本发明公开了一种用于内孔参数测量装置测头长度校准的球面环规及测头长度校准方法。所述内孔多参数测量装置基于坐标测量原理,可用于测量内孔横截面直径、圆度以及内孔的直线度。由于采用基于比较测量法则的接触式位移测头,在测量之前,需要通过球面环规先校准测头的基准长度,即准确获取测头零位到测头回转中心的距离α。球面环规用于测头校准的内表面为一段高精度光滑球形曲面,该球形曲面环规在测量装置的姿态相对于环规有偏心、倾斜的情况下,依然能够对测头长度进行高精度校准。同时,本发明公开了一种利用所述的球面环规对测头长度进行校准的方法。

著录项

  • 公开/公告号CN106940175A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-07-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 合肥工业大学;

    申请/专利号CN201710230854.2

  • 申请日2017-04-11

  • 分类号

  • 代理机构安徽合肥华信知识产权代理有限公司;

  • 代理人余成俊

  • 地址 230009 安徽省合肥市屯溪路193号

  • 入库时间 2023-06-19 02:48:20

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-07-31

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B21/04 申请公布日:20170711 申请日:20170411

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-08-04

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/04 申请日:20170411

    实质审查的生效

  • 2017-07-11

    公开

    公开

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