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显微镜附接件及结合显微镜附接件进行样本分析的方法

摘要

本发明涉及显微镜附接件及结合所述显微镜附接件进行样本分析的方法。显微镜附接件包含具有一或多个透镜的透镜设备、光源及样本托架。所述样本托架安置于所述透镜设备与所述光源之间,且经定位以使来自所述光源的光透射通过所述样本托架及所述透镜设备。所述透镜设备经安置以放大所述样本托架中的光学区域。附接机构经安置以将所述显微镜附接件连接到个人电子装置。

著录项

  • 公开/公告号CN106842536A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-06-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 豪威科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201610772916.8

  • 发明设计人 范纯圣;

    申请日2016-08-30

  • 分类号G02B21/36;G01N21/84;

  • 代理机构北京律盟知识产权代理有限责任公司;

  • 代理人齐杨

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-06-19 02:34:26

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-07-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G02B21/36 申请日:20160830

    实质审查的生效

  • 2017-06-13

    公开

    公开

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