一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法

摘要

本发明公开一种检验PCB中DIP器件位置信息的方法，涉及PCB设计领域；测量DIP元器件本体与PCB边缘的距离，得到测量距离数据，比较测量的距离数据与安全距离的大小，当测量的距离数据大于安全距离时，DIP元器件本体的位置信息正常，否则判定DIP元器件本体的位置信息异常；本发明是对PCB设计中其中一种DIP元器件进行位置信息的检验，查看DIP器件的位置是否放置错误，防止PCB板上电气连接异常的器件出现,保证PCB设计的正确性。