退出
我的积分:
中文文献批量获取
外文文献批量获取
公开/公告号CN106552659A
专利类型发明专利
公开/公告日2017-04-05
原文格式PDF
申请/专利权人 松下知识产权经营株式会社;
申请/专利号CN201610802484.0
发明设计人 菊地谅介;中村透;田村聪;村濑英昭;羽藤一仁;
申请日2016-09-05
分类号B01J27/24;C23C14/06;C23C14/34;C25B1/04;C25B11/06;
代理机构北京市中咨律师事务所;
代理人刘航
地址 日本大阪府
入库时间 2023-06-19 01:55:21
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2019-04-12
发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):B01J27/24 申请公布日:20170405 申请日:20160905
发明专利申请公布后的视为撤回
2017-04-05
公开
机译: 在晶体硅衬底上外延生长晶体绝缘层,同时生长氧化硅,氮化物或氮氧化物的方法
机译: 铌氧氮化物层的生长方法
机译:MOCVD生长的氮化铌和氮氧化物薄膜的研究
机译:MBE生长的具有不同厚度VO2层的基于n-VO2 / p-GaN的氮氧化物异质结构
机译:通过氮化单晶氧化物进行厚钙钛矿型氮氧化物层的全势生长
机译:钨和铌阳极氧化过程中屏障层生长和纳米孔开始
机译:铌基三层和堆叠的约瑟夫逊结的生长和性能。
机译:原位生长锂硫酸MOF层使枝晶锂沉积能够
机译:碳化铌和氮化铌通过排出方法的纤维生长
机译:利用图案化掩模的横向过度生长来生长低缺陷,高纯度结晶层的方法