首页> 中国专利> 高温环境下材料低周疲劳应变幅的光学测量方法

高温环境下材料低周疲劳应变幅的光学测量方法

摘要

本发明涉及一种测量高温环境下材料低周疲劳应变幅的光学测量方法,通过两步整像素搜索算法,即利用PSO算法获得最佳初始估计值附近的点,并结合BBGDS算法快速获得最佳初始估计值。然后利用IC‑GN亚像素搜素算法快速获得目标点在变形图中的亚像素位置。该算法与传统DIC相比,大大减少了计算所消耗的时间,能够稳定的跟踪到目标点,跟踪速度可以达到100帧/秒,满足低周疲劳试验过程中对应变的实时监测。

著录项

  • 公开/公告号CN106485267A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-03-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201610849094.9

  • 发明设计人 张东升;张水强;吴荣;王福红;

    申请日2016-09-24

  • 分类号G06K9/62;G06N3/00;

  • 代理机构上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人何文欣

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2023-06-19 01:42:42

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-06-19

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G06K9/62 申请公布日:20170308 申请日:20160924

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2017-04-05

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06K9/62 申请日:20160924

    实质审查的生效

  • 2017-03-08

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号