法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2017-04-05
实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20161026
实质审查的生效
2017-03-08
公开
公开
机译: 用于检测三维(3D)集成电路(IC)(3DIC)中的TSV裂纹的硅通孔(TSV)裂纹传感器以及相关方法和系统
机译: 通孔硅VIA(TSV)裂纹传感器,用于检测三维(3D)集成电路(IC)(3DIC)中的TSV裂纹以及相关方法和系统
机译: 通孔硅VIA(TSV)裂纹传感器,用于检测三维(3D)集成电路(IC)(3DIC)中的TSV裂纹以及相关方法和系统