首页> 中国专利> 电‑热耦合场中的形状记忆合金材料疲劳性能测试系统

电‑热耦合场中的形状记忆合金材料疲劳性能测试系统

摘要

本发明公开了电‑热耦合场中的形状记忆合金材料疲劳性能测试系统;该测试系统包括供电系统、摄影系统、温度采集系统和控制系统。摄影系统包括带取景窗的摄影箱、照明光源、工业照相机和照相机脚架;温度采集系统包括测温热电偶和温度采集卡;控制系统包括时间继电器和计算机。用供电电源对形状记忆合金材料进行电流加载;用时间继电器独立控制被监测样品和冷却风扇的通电时间。本发明测试系统可实现对所涉及形状记忆合金材料在电流及焦耳热耦合作用下的位移和温度的监测,同时获得被监测样品上一个或若干个标记点的位移和温度数据,适用于表征形状记忆合金材料在电‑热耦合场下的功能疲劳性能。

著录项

  • 公开/公告号CN106442124A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 华南理工大学;

    申请/专利号CN201611088408.4

  • 申请日2016-11-30

  • 分类号G01N3/06(20060101);

  • 代理机构44245 广州市华学知识产权代理有限公司;

  • 代理人罗观祥

  • 地址 510640 广东省广州市天河区五山路381号

  • 入库时间 2023-06-19 01:41:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-03-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N3/06 申请日:20161130

    实质审查的生效

  • 2017-02-22

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号