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一种X射线检测的曝光曲线计算方法

摘要

一种X射线检测的曝光曲线计算方法,所述曝光曲线计算方法是:(一)基础参数获得;利用相关的器材获取基础参数,具体获取基础参数的步骤是:a)分别选定不同管电压,采用较大曝光量和较小曝光量,焦距F

著录项

  • 公开/公告号CN106124536A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-11-16

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 杭州杭锅工业锅炉有限公司;

    申请/专利号CN201610504406.2

  • 发明设计人 安发顺;陈涛;

    申请日2016-06-27

  • 分类号G01N23/04;

  • 代理机构杭州九洲专利事务所有限公司;

  • 代理人翁霁明

  • 地址 310004 浙江省杭州市余杭区良运街123号

  • 入库时间 2023-06-19 00:52:11

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01N23/04 申请公布日:20161116 申请日:20160627

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-12-14

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/04 申请日:20160627

    实质审查的生效

  • 2016-11-16

    公开

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