衰减片特性阻抗和衰减量测量系统及测量方法

摘要

本发明涉及一种衰减片特性阻抗和衰减量测量系统及测量方法。本发明包括直流电源、保护电阻、变阻箱、电压表、第一双刀双掷继电器、第二双刀双掷继电器、第三单刀双掷继电器；本发明方法通过多个继电器的组合控制调整，实现六种不同电路的快速切换，从而同时测量衰减片两个方向的特性阻抗和衰减量。本发明操作简单、使用灵活方便，增加了测量效率。