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用激光干涉仪检测高精度触发式测头重复精度的装置及检测方法

摘要

本发明公开了一种用激光干涉仪检测高精度触发式测头重复精度的装置及检测方法,包括:设置于水平工作面上的载物台、能够往复运动的自动滑台、用于计算得出触发式测头重复精度的信号处理模块、用于分别测量自动滑台运动位置坐标的触发式测头和激光干涉仪线性测量组件;所述的触发式测头和激光干涉仪线性测量组件用于分别将测得的位置坐标值记录,并传输给测头信号处理模块。本发明所述的用激光干涉仪检测高精度触发式测头重复精度的装置及检测方法,有效的避免了在机测量中预行程误差及测量余弦误差,以便对高精度触发式测头精度的分析和误差补偿。

著录项

  • 公开/公告号CN105841650A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-08-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 科德数控股份有限公司;

    申请/专利号CN201610408905.1

  • 申请日2016-06-08

  • 分类号

  • 代理机构大连东方专利代理有限责任公司;

  • 代理人孟兆华

  • 地址 116600 辽宁省大连市金州新区黄海街8号

  • 入库时间 2023-06-19 00:17:55

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2019-08-23

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01B21/00 申请公布日:20160810 申请日:20160608

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-09-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01B21/00 申请日:20160608

    实质审查的生效

  • 2016-08-10

    公开

    公开

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