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一种光学测绘相机辐射性能指标的量化方法

摘要

本发明公开了一种测绘相机辐射性能指标的量化方法,其步骤如下:步骤1:基于最小二乘影像匹配,推导得出影响测绘精度的相机辐射性能指标;步骤2:在步骤1基础上,分析各指标对测绘匹配精度的影响规律;步骤3:以实现相机辐射指标与场景信息去相关解耦为目的,提出场景信息表征参数;步骤4:在步骤2和3基础上,构建相机辐射指标与测绘精度之间的关联模型;步骤5:结合步骤4所建模型,提出相机辐射指标量化方法。本发明提供的方法建立了相机辐射指标与匹配精度之间的关联模型,利用该模型可为测绘相机辐射性能指标的量化与优化设计及性能预估提理论指导与技术支撑。

著录项

  • 公开/公告号CN105677943A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-06-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 哈尔滨工业大学;

    申请/专利号CN201511003352.3

  • 发明设计人 智喜洋;胡建明;孙晅;张伟;傅斌;

    申请日2015-12-28

  • 分类号G06F17/50;G06N3/12;G06T7/00;

  • 代理机构哈尔滨龙科专利代理有限公司;

  • 代理人高媛

  • 地址 150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号

  • 入库时间 2023-12-18 15:32:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-07-13

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/50 申请日:20151228

    实质审查的生效

  • 2016-06-15

    公开

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