基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统

摘要

本发明公开了可以实现基于声光调制的光学器件透反射率的测量系统，主要解决现有系统测量精度不够高的问题。整个系统包括连续激光器、光路控制室、光电放大模块、反馈控制模块、测量转台和参数测量模块；激光器输出功率待稳定的激光，通过光路控制室后垂直照射到探测器上产生电流信号，光电放大模块将此电流信号放大为电压信号，反馈控制模块处理该电压信号得到反馈信号，以控制声光调制驱动器调节声光调制器以稳定激光的功率，高稳定度的激光入射到待测光学器件上，通过测量待测光学器件透过或反射得到的激光功率，来计算待测光学器件的透反射率。本发明具有测量精度高和操作简单等优点。