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一种X射线底片防止漏评方法

摘要

本发明涉及一种X射线底片防止漏评方法,其特征为收集一个零件的所有射线底片,按尺寸分类整理放置,在评完底片的非评定区统一选取一处固定位置,检测人员评完一张底片,即用便携打孔机在其上打一孔,归类收集,表明已经完成评定,若在底片的固定位置未发现孔,则该底片尚未进行评定,以此防止底片的漏评。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-09

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N23/00 申请公布日:20151104 申请日:20140429

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-12-02

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N23/00 申请日:20140429

    实质审查的生效

  • 2015-11-04

    公开

    公开

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