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基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法

摘要

一种基于Burg算法的自回归谱外推技术提高TOFD检测纵向分辨率的方法,属于超声无损检测技术领域。该方法采用一套TOFD超声检测仪、TOFD探头、扫查装置、集成TOFD常规分析功能的软件以及计算机构成的超声检测系统。针对缺陷进行TOFD扫查,对采集到的包含缺陷上下端衍射波的时域混叠信号进行自回归谱外推处理。以参考信号的-6dB频带宽度为基准,选取该频带范围内的缺陷信号,并利用Burg算法估计该频带范围外的缺陷信号,从而拓宽频带宽度,提高缺陷检测的纵向分辨率,实现缺陷高度定量。与其它提高TOFD检测纵向分辨率的方法相比,该方法对硬件系统无额外要求,且不受检测探头激励脉冲时间宽度的限制,具有较好的工程应用价值。

著录项

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-03-02

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N29/06 申请公布日:20150909 申请日:20150617

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2015-10-07

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N29/06 申请日:20150617

    实质审查的生效

  • 2015-09-09

    公开

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