首页> 中国专利> 基于附有约束的总体最小二乘法的空间数据精度提高方法

基于附有约束的总体最小二乘法的空间数据精度提高方法

摘要

本发明涉及一种基于附有约束的总体最小二乘法的空间数据精度提高方法,包括:步骤S1:将附有非线性等式及不等式约束的空间精度提高问题转换为附有非线性等式及不等式约束的总体最小二乘解算模型;步骤S2:基于附有非线性等式及不等式约束的总体最小二乘解算模型,通过迭代由空间数据的变量初值获得最优的变量估值。与现有技术相比,本发明适用于测绘与GIS领域中涉及非线性约束的平差问题,同时考虑了非线性的等式及不等式约束条件,具有提高空间数据精度等优点。

著录项

  • 公开/公告号CN104866462A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-08-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 同济大学;

    申请/专利号CN201510232337.X

  • 申请日2015-05-08

  • 分类号G06F17/11(20060101);

  • 代理机构31225 上海科盛知识产权代理有限公司;

  • 代理人叶敏华

  • 地址 200092 上海市杨浦区四平路1239号

  • 入库时间 2023-12-18 10:36:06

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-12-26

    授权

    授权

  • 2015-09-23

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F17/11 申请日:20150508

    实质审查的生效

  • 2015-08-26

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号