首页> 中国专利> 放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置

放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置

摘要

本发明提供一种放射率测定方法、放射率测定装置、检查方法及检查装置,目的在于能够在不将被检物加热至高温的情况下测定被检物的放射率。本发明提供的放射率测定方法包括:红外光照射步骤,对被检物照射第一放射能的红外光;测定步骤,根据来自照射了所述红外光的所述被检物的反射红外光测定第二放射能;以及计算步骤,基于所述第一放射能与所述第二放射能计算所述被检物的放射率。

著录项

  • 公开/公告号CN102759507A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-10-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 松下电器产业株式会社;

    申请/专利号CN201210031490.2

  • 发明设计人 壁谷泰宏;古田宽和;八木晴久;

    申请日2012-02-13

  • 分类号G01N21/17;

  • 代理机构中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人樊建中

  • 地址 日本大阪府

  • 入库时间 2023-12-18 07:07:03

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-09-16

    发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N21/17 申请公布日:20121031 申请日:20120213

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2012-12-26

    实质审查的生效 IPC(主分类):G01N21/17 申请日:20120213

    实质审查的生效

  • 2012-10-31

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号