首页> 中国专利> 触摸板和触摸板中的坐标检测方法

触摸板和触摸板中的坐标检测方法

摘要

本发明提供一种触摸板和触摸板中的坐标检测方法,触摸板包括:第一导电膜,被分割成彼此绝缘的多个区域;第二导电膜,与第一导电膜相对并且与第一导电膜分离;彼此相对的一对电极,设置在第二导电膜上;彼此相对的另一对电极,设置在第二导电膜上;和控制单元,在每个区域中判定第一导电膜是否与第二导电膜接触,在第一导电膜与第二导电膜接触的情况下,通过向所述一对电极施加电压,检测第一导电膜与第二导电膜接触的点的X坐标和Y坐标中的一个,在每个区域中检测了X坐标和Y坐标中的一个之后,释放向所述一对电极施加的电压,并且在释放了电压之后,通过向所述另一对电极施加电压,在每个区域中检测X坐标和Y坐标中的另一个。

著录项

  • 公开/公告号CN102103431A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2011-06-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 富士通电子零件有限公司;

    申请/专利号CN201010600000.7

  • 申请日2010-12-17

  • 分类号

  • 代理机构中国国际贸易促进委员会专利商标事务所;

  • 代理人吕林红

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-18 02:47:37

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-12-02

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F 3/041 专利号:ZL2010106000007 申请日:20101217 授权公告日:20131211

    专利权的终止

  • 2013-12-11

    授权

    授权

  • 2011-08-03

    实质审查的生效 IPC(主分类):G06F3/041 申请日:20101217

    实质审查的生效

  • 2011-06-22

    公开

    公开

说明书

技术领域

这里所讨论的实施方式的特定方面涉及一种触摸板和触摸板中的坐标检测方法。

背景技术

电阻触摸板是通过将各包括透明导电膜的上层和下层相对置而形成的。当用手指、笔等推动触摸板时,电阻触摸板通过由于上层的导电膜与下层的导电膜的接触而引起的导电来检测接触点的坐标。

日本专利申请公开No.2005-182737(文献1)公开了一种由透明导电聚合物形成导电膜的电阻触摸板。日本专利申请公开No.2008-135291(文献2)公开了一种由导电聚合物和金属氧化物形成导电膜的电阻触摸板。

在将导电膜分割成多个区域并检测每个区域中的触摸的多点输入触摸板中,由于在每个区域中进行用于坐标检测的电压的释放,因而存在难以进行高速检测操作的情况。

通过滑动触摸了触摸板的手指等而在触摸板上进行描画。在这样的描画模式中,当触摸板的处理速度慢时,妨碍了平滑的描画。

当在导电膜的分割区域中存在包括引出布线的区域时,有时会在每个区域中改变下拉电阻值和滤波器的屏蔽频率。当改变下拉电阻值和滤波器的屏蔽频率的次数变大时,有可能使触摸板的操作速度变慢。

当同时触摸了引出布线和引出布线以外的区域时,可能会判定进行了非意图的输入,从而可能发生触摸板的错误操作。

发明内容

本发明的目的是提供一种能够提高触摸板的操作速度的触摸板和触摸板中的坐标检测方法,或者提供一种能够提高坐标检测的精度的触摸板和触摸板中的坐标检测方法。

根据本发明的一个方面,提供一种触摸板,包括:第一导电膜,被分割成彼此绝缘的多个区域;第二导电膜,与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;彼此相对的一对电极,设置在所述第二导电膜上;彼此相对的另一对电极,设置在所述第二导电膜上;和控制单元,被构成为在每个区域中判定所述第一导电膜是否与所述第二导电膜接触,在所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的情况下,通过向所述一对电极施加电压,检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的X坐标和Y坐标中的一个,在每个区域中检测了X坐标和Y坐标中的一个之后,释放向所述一对电极施加的电压,并且在释放了向所述一对电极施加的电压之后,通过向所述另一对电极施加电压,在每个区域中检测X坐标和Y坐标中的另一个。

利用上述触摸板,可以通过减少放电的次数而提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,在所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述多个区域中的某个区域中接触的情况下,所述控制单元可以在所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的区域中检测X坐标和Y坐标中的一个,然后在所述多个区域中的、与所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的区域不同的区域中判定所述第一导电膜是否与所述第二导电膜接触。

利用上述结构,可以通过减少放电的次数而提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,所述控制单元可以在每个区域中判定所述第一导电膜是否与所述第二导电膜接触之后,在每个区域中检测X坐标和Y坐标中的一个。

利用上述结构,可以通过减少放电的次数而提高触摸板的操作速度。而且,不必重复被触摸检查和X坐标与Y坐标中的一个的检测。因此可以进一步提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,当所述第一导电膜与所述第二导电膜接触时,所述控制单元可以记忆所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的区域,并且在所记忆的区域中检测X坐标和Y坐标。

利用上述结构,可以进一步提高触摸板的操作速度。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板,包括:第一导电膜,被分割成彼此绝缘的多个区域;第二导电膜,与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;和控制单元,被构成为在所述控制单元输出了所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的坐标时,在输出坐标的处理的下一处理中,在输出了坐标的区域和与输出坐标的区域相邻的区域中,检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的坐标,而在所述控制单元输出了坐标的情况下,不在在所述下一处理中输出坐标的区域和与在所述下一处理中输出坐标的区域相邻的区域以外的区域中检测坐标。

利用上述触摸板,与依次在每个分割区域中执行坐标检测的情况相比,可以提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,所述控制单元可以在所述下一处理中在沿着根据输出坐标的处理而判定的方向的每个区域中检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的坐标。

利用上述结构,可以提高触摸板的操作速度。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板,包括:第一导电膜,被分割成彼此绝缘的多个区域;第二导电膜,与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;和控制单元,被构成为在每个组中检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的坐标,所述组包括:由所述多个区域中的第一区域的主区域构成的第一组;和由所述第一区域的引出布线和所述多个区域中的第二区域构成的第二组。

利用上述触摸板,由于不必在每个区域中校正电位差和改变滤波器的屏蔽频率,因此可以提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,所述第一组和所述第二组可以是通过将所述多个区域按照行或列来分组而形成的;在通过将所述多个区域按照列来分组而形成所述第一组和所述第二组的情况下,所述引出布线可以向行方向引出,在通过将所述多个区域按照行来分组而形成所述第一组和所述第二组的情况下,所述引出布线可以向列方向引出。

利用上述结构,可以提高触摸板的操作速度。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板,包括:第一导电膜,被分割成彼此绝缘的多个区域;第二导电膜,与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;和控制单元,被构成为在多个组中的每个组中判定所述第一导电膜是否与所述第二导电膜接触,在所述多个组中的、所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的组中检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的坐标,而不在所述第一导电膜与所述第二导电膜不接触的组中检测坐标,其中每个组由所述多个区域中的一些区域构成。

利用上述触摸板,与在每个区域中执行被触摸检查和坐标检测的情况相比,被触摸检查和坐标检测的次数减少。因此可以提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,所述多个组可以包括:由所述多个区域中的第一区域的主区域构成的第一组;和由所述第一区域的引出布线和所述多个区域中的第二区域构成的第二组。

利用上述结构,由于不必在每个区域中校正电位差和改变滤波器的屏蔽频率,因此可以提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,所述第一组和所述第二组可以是通过将所述多个区域按照行或列来分组而形成的;在通过将所述多个区域按照列来分组而形成所述第一组和所述第二组的情况下,所述引出布线可以向行方向引出,在通过将所述多个区域按照行来分组而形成所述第一组和所述第二组的情况下,所述引出布线可以向列方向引出。

利用上述结构,可以进一步提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,触摸板还可以包括被连接到所述第一组和所述第二组的滤波器,这些滤波器的屏蔽频率彼此不同。

利用上述结构,由于不必在每个区域中改变滤波器的屏蔽频率,因此可以进一步提高触摸板的操作速度。

在上述结构中,触摸板还可以包括组合单元,该组合单元将响应于所述第一导电膜与所述第二导电膜的接触而从构成各个组的一些区域发送的信号组合成一个信号;所述控制单元响应于由所述组合单元组合的所述一个信号的接收,在由该一些区域构成的组中判定所述第一导电膜与所述第二导电膜接触。

利用上述结构,可以利用简单的结构自动地判定第一导电膜与第二导电膜接触的组并检测坐标。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板,包括:第一导电膜,被分割成彼此绝缘的多个区域;第二导电膜,与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;和控制单元,被构成为在所述第一导电膜与所述第二导电膜在第一区域、第二区域和位于所述第一区域和所述第二区域之间的第三区域的引出布线中接触,并且第一坐标与第二坐标之差、第一坐标与第三坐标之差在给定范围内的情况下,输出根据所述第一坐标和所述第二坐标计算的第四坐标,其中,所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域包括在所述多个区域中,所述第一坐标是所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述第一区域中接触的点的坐标,所述第二坐标是所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述第二区域中接触的点的坐标,所述第三坐标是所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述第三区域的引出布线中接触的点的坐标。

利用上述触摸板,即使在多个区域和引出布线中检测出坐标,也输出基于所检测的坐标而计算的坐标。因此可以提高坐标检测的精度。特别是,由于忽略引出布线中的输入并判定在单个点进行了输入,因此可以防止错误操作。

在上述结构中,所述控制单元可以输出所述第一坐标和所述第二坐标的平均坐标作为所述第四坐标。

利用上述结构,可以提高坐标检测的精度。

在上述结构中,所述控制单元可以根据第五坐标和所述第四坐标计算第六坐标,并且输出根据所述第四坐标和所述第六坐标计算的所述第五坐标;所述第五坐标是所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述第三区域的主区域中接触的点的坐标。

利用上述结构,即使在两个点检测出坐标,也可以输出实际进行了输入的点的坐标。因此可以提高触摸板的坐标检测精度,防止错误操作。

在上述结构中,所述控制单元可以将所述第四坐标和所述第五坐标的平均坐标设置为第六坐标。

利用上述结构,可以提高触摸板中的坐标检测精度,防止错误操作。

根据本发明的一个方面,提供一种触摸板中的坐标检测方法,包括以下步骤:在每个区域中判定第一导电膜是否与第二导电膜接触,所述第一导电膜被分割成彼此绝缘的多个区域,所述第二导电膜与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;当所述第一导电膜与所述第二导电膜接触时,通过向设置在所述第二导电膜上的一对电极施加电压,检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的X坐标和Y坐标中的一个,所述一对电极彼此相对;在每个区域中检测了X坐标和Y坐标中的一个之后,释放向所述一对电极施加的电压;以及在释放了向所述一对电极施加的电压之后,通过向彼此相对的另一对电极施加电压,在每个区域中检测X坐标和Y坐标中的另一个。

利用上述坐标检测方法,可以通过减少放电的次数而提高触摸板的操作速度。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板中的坐标检测方法,包括以下步骤:输出第一导电膜与第二导电膜接触的点的坐标,所述第一导电膜被分割成彼此绝缘的多个区域,所述第二导电膜与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;在上述输出步骤之后,在通过上述输出步骤输出了坐标的区域和与输出坐标的区域相邻的区域中,检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的坐标;以及在上述输出步骤中输出了坐标的情况下,不在通过上述检测步骤检测了坐标的区域和与通过上述检测步骤检测了坐标的区域相邻的区域以外的区域中检测坐标。

利用上述坐标检测方法,与依次对所有分割区域执行坐标检测的情况相比,可以提高触摸板的操作速度。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板中的坐标检测方法,包括以下步骤:在由多个区域中的第一区域的主区域构成的第一组中检测第一导电膜与第二导电膜接触的点的坐标,所述第一导电膜被分割成彼此绝缘的所述多个区域,所述第二导电膜与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;以及在由所述第一区域的引出布线和所述多个区域中的第二区域构成的第二组中检测坐标。

利用上述坐标检测方法,由于不必在每个区域中校正电位差和改变滤波器的屏蔽频率,因此可以提高触摸板的操作速度。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板中的坐标检测方法,包括以下步骤:在多个组中的每个组中判定第一导电膜是否与第二导电膜接触,所述第一导电膜被分割成彼此绝缘的多个区域,所述第二导电膜与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离,所述多个组由所述多个区域中的一些区域构成;在所述多个组中的、所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的组中检测所述第一导电膜与所述第二导电膜接触的点的坐标;以及不在所述多个组中的、所述第一导电膜与所述第二导电膜不接触的组中检测坐标。

利用上述坐标检测方法,与在每个区域中执行被触摸检查和坐标检测的情况相比,被触摸检查和坐标检测的次数减少。因此可以提高触摸板的操作速度。

根据本发明的另一个方面,提供一种触摸板中的坐标检测方法,包括以下步骤:在第一导电膜与第二导电膜在第一区域、第二区域和位于所述第一区域和所述第二区域之间的第三区域的引出布线中接触的情况下,判定第一坐标与第二坐标之差、以及第一坐标与第三坐标之差是否在给定范围内,所述第一导电膜被分割成彼此绝缘的多个区域,所述第二导电膜与所述第一导电膜相对并且与所述第一导电膜分离;以及当所述第一坐标与所述第二坐标之差、以及所述第一坐标与所述第三坐标之差在给定范围内时,输出根据所述第一坐标和所述第二坐标计算的第四坐标,其中,所述第一区域、所述第二区域和所述第三区域包括在所述多个区域中,所述第一坐标是所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述第一区域中接触的点的坐标,所述第二坐标是所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述第二区域中接触的点的坐标,所述第三坐标是所述第一导电膜与所述第二导电膜在所述第三区域的引出布线中接触的点的坐标。

利用上述坐标检测方法,即使在多个区域和引出布线中检测出坐标,也输出基于所检测的坐标而决定的坐标。因此可以提高触摸板中的坐标检测的精度。特别是,由于忽略引出布线中的输入并判定在单个点进行了输入,因此可以防止错误操作。

本发明的目的和优点可以通过权利要求书中特别指出的要素和组合来实现和获得。

应当理解,上述的概括性说明和下述的详细说明是解释性的,不限制本发明的范围。

附图说明

图1A和图1B是示出触摸板的构成的透视图,图1C是示出触摸板的构成的平面图。

图2是示出第一实施方式所涉及的触摸板的框图。

图3是示出区域选择单元20的构成的图。

图4是示出比较例所涉及的触摸板的控制的流程图。

图5是示出被触摸检查的流程图。

图6是示出第一实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图7是示出第一实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图8是示出第一实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图9是示出第一实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图10A和图10B是示出第二实施方式所涉及的触摸板的平面图。

图11是示出第二实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图12是示出第二实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图13是示出第二实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图14是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图15是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图16是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图17是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图18是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图19是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图20是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图21是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图22是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

图23A是示出设置有引出布线的触摸板300的平面图,图23B是示出包括引出布线的区域的放大图。

图24是示出第三实施方式所涉及的触摸板的区域选择单元和滤波单元的框图。

图25是示出第三实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图26A~26C是示出第四实施方式所涉及的区域选择单元的图。

图27是示出第四实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图28A是示出第五实施方式所涉及的触摸板的引出布线的放大图,图28B是示出第五实施方式的变形所涉及的触摸板的包括引出布线的区域的放大图。

图29是示出第五实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

具体实施方式

以下参照附图对本发明的实施方式进行说明。

[第一实施方式]

以下将对触摸板的构成进行说明。图1A和图1B是示出触摸板的构成的透视图,图1C是示出触摸板的构成的平面图。

图1A是示出5线电阻触摸板的透视图。如图1A所示,触摸板100设置有第一导电膜2、第二导电膜4和电极6、8、10、12。第一导电膜2和第二导电膜4彼此相对并且彼此分离地放置。第一导电膜2和第二导电膜4由ITO(Indium Tin Oxide,氧化铟锡)和有机导电聚合物等导电材料构成。第二导电膜4设置有由Ag等金属构成的电极6、8、10、12。电极6、8、10、12沿着各个边位于第二导电膜4的边缘。即,电极6和8形成彼此相对的一对电极,电极10和12形成彼此相对的另一对电极。可以对第一导电膜2和电极6、8、10、12施加电压。

以下将对5线电阻触摸板的原理进行说明。向电极6、8、10、12中的一个电极施加电源电压Vcc。这里,例如向电极6施加电源电压Vcc。将下拉电阻与第一导电膜2连接。当第一导电膜2与第二导电膜4接触时,被施加了Vcc的电极6与下拉电阻接触,施加到下拉电阻上的电位变高。通过下拉电阻的电位变高,检测出第一导电膜2与第二导电膜4接触。这里,如果向与电极6相对的电极8施加电压Vss,则在电极6与电极8之间产生电位差。由于导电膜的电阻根据电极和第一导电膜2与第二导电膜4接触的点(图中的虚线区域)之间的距离而改变,因此可以根据电极之间产生的电压来检测第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的坐标。在图1A所示的构成中,通过向电极6和电极8施加电压来检测X坐标,通过向电极10和电极12施加电压来检测Y坐标。

图1B是示出第一实施方式所涉及的触摸板100的透视图,图1C是从第一导电膜2的上方看到的触摸板100的平面图。在图1C中,示出了后述的X方向和Y方向。如图1B和图1C所示,第一导电膜2被分割成具有4行和4列的矩阵中的16个区域。这些区域被称作F11~F44。这些区域彼此绝缘并且与下拉电阻连接。从而可以在每个区域中检测第一导电膜2与第二导电膜4的接触。即,第一实施方式所涉及的触摸板100是多点输入触摸板。

以下对触摸板的控制设备的构成进行说明。图2是示出触摸板的控制设备的构成的框图。

如图2所示,控制设备14设置有控制单元16、电极控制单元18、区域选择单元20、滤波单元22、A/D(模拟/数字)转换单元24和接口26。

电极控制单元18与图1A~1C所示的电极6、8、10、12连接,向每个电极施加电压以及释放所施加的电压。区域选择单元20与第一导电膜2连接,选择第一导电膜2的分割区域。区域选择单元20接收响应于第一导电膜2与第二导电膜4的接触而从所选择的区域发送的信号。滤波单元22例如包括多个低通滤波器。滤波单元22经由区域选择单元20接收从第一导电膜2发送的信号,滤除噪声并将信号发送给A/D转换单元24。A/D转换单元24将从第一导电膜2发送并且进行了滤波的信号从模拟转换为数字。

控制单元16例如是微处理器,控制电极控制单元18、区域选择单元20和接口26。而且,控制单元16接收从A/D转换单元24发送的信号,并且根据所接收的信号判定第一导电膜2与第二导电膜4在区域F11~F44中的哪个区域中接触。另外,控制单元16输出第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的坐标。即,控制单元16基于所接收的信号而执行坐标转换。接口26向与触摸板100连接的计算机等外部装置输出从控制单元16输出的坐标信息。

以下将对区域选择单元20的构成进行说明。图3是示出区域选择单元20的构成的图。

如图3所示,区域F11~F14与多路器30连接,区域F21~F24与多路器32连接,区域F31~F34与多路器34连接,区域F41~F44与多路器36连接。多路器30~36中的每一个接收从与其连接的区域发送的信号,并且接收从控制单元16发送的选择信号。多路器30~36中的每个的输出侧与滤波单元22连接,并且经由晶体管38和下拉电阻40与地连接。即,输出侧与晶体管38的集电极连接。晶体管38的发射极经由下拉电阻40与地连接,来自控制单元16的信号被输入到晶体管38的基极。由多路器30~36从各区域接收的信号中的、由选择信号选择的信号被发送给滤波单元22,并且经由晶体管38输入到下拉电阻40。由此,向下拉电阻40提供高电位,检测出第一导电膜2与第二导电膜4的接触。

以下将对第一实施方式所涉及的触摸板的控制进行说明。在说明第一实施方式之前对比较例进行说明。图4是示出比较例所涉及的触摸板的控制的流程图。图1B和图1C所示的第一导电膜2的分割区域的位于第m行第n列的区域表示为Fmn。

如图4所示,控制单元16通过将行号m设置为1、将列号n设置为1,控制区域选择单元20以选择作为处理对象的区域F11(步骤S1)。在步骤S1之后,控制单元16在区域Fmn中检查第一导电膜2与第二导电膜4是否接触(步骤S2)。这意味着从区域F11开始在每个区域Fmn中进行检查。此后,在流程图中,将第一导电膜2是否与第二导电膜4接触的检查称为“被触摸(touch-ON)检查”。

这里参照流程图对被触摸检查进行说明。图5是示出被触摸检查的流程图。

如图5所示,电极控制单元18向电极6施加电压Vcc(步骤S14)。在步骤S14之后,区域选择单元20将区域Fmn与下拉电阻R连接(步骤S15)。在步骤S15之后,控制单元16判定下拉电阻R的电位是否为高(步骤S16)。当在步骤S16中判定为“是”时,控制单元16判定第一导电膜2与第二导电膜4在区域Fmn中接触(步骤S17)。当在步骤S16中判定为“否”时,控制单元16判定第一导电膜2与第二导电膜4在区域Fmn中不接触(步骤S18)。此后,将第一导电膜2与第二导电膜4接触称为“被触摸”。在步骤S17和S18之后,处理结束。

返回图4对步骤S2之后的处理进行说明。在步骤S2之后,控制单元16判定第一导电膜2与第二导电膜4在区域Fmn中是否接触(步骤S3)。当判定为“否”时,处理转移到后述的步骤S10。

当判定为“是”时,电极控制单元18向电极6施加Vcc,并向电极8施加Vss(步骤S4)。这被描述为“电极6=Vcc,电极8=Vss”。该描述规则适用于电极10和电极12。在步骤S4之后,控制单元16检测第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的X坐标(步骤S5)。在步骤S5之后,控制单元16释放对电极6和电极8施加的电压(步骤S6)。在步骤S6之后,电极控制单元18向电极10施加Vcc,并向电极12施加Vss(步骤S7)。在步骤S7之后,控制单元16检测区域F11的Y坐标(步骤S8)。在步骤S8之后,控制单元16释放对电极10和电极12施加的电压(步骤S9)。

在步骤S9之后,或者当在步骤S3中判定为“否”时,控制单元16判定m是否为MAX(步骤S10)。这里,“MAX”是指分配给分割区域的行号m的最大号。在图1C的例子中,当m为MAX时,m为4(m=4)。当判定为“否”时,控制单元16控制区域选择单元20以将行号m加1(步骤S11)。在步骤S11之后,处理返回到步骤S2,控制单元16在区域F21中执行步骤S2之后的处理。

当在步骤S10中判定为“是”时,意味着m为4,控制单元16判定n是否为MAX(步骤S12)。这里,“MAX”是指分配给分割区域的列号n的最大号。即,4为n的MAX。当判定为“否”时,控制单元16控制区域选择单元20以将行号m设置为1,将列号n加1(步骤S13)。在步骤S13之后,处理返回到步骤S2,控制单元16在区域F12中执行步骤S2之后的处理。当在步骤S13中判定为“是”时,结束处理。

在图4所示的比较例中,在每个区域中执行被触摸检查(步骤S2)、X坐标的检测(步骤S5)和Y坐标的检测(步骤S8)。如图4中的步骤S6和S9所示,在X坐标的检测和Y坐标的检测之间释放电压。释放电压需要一定的时间量。另外,从步骤S2开始的处理的重复次数与区域的个数成比例地增加。结果,触摸板的操作速度可能变慢。如上所述,在多点输入触摸板中,在提高触摸板的操作速度上存在问题。

以下将对第一实施方式所涉及的触摸板的控制进行说明。图6和图7是示出第一实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

如图6所示,控制单元16重设每个区域的标志(步骤S20)。在步骤S20之后,控制单元16执行从步骤S1到步骤S3的处理。即,控制单元16从区域F11开始针对每个区域Fmn判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触。当在步骤S3中判定为“否”时,处理前进到后述的步骤S24。当判定为“是”时,控制单元16对被判定为处于“被触摸”状态的区域Fmn设置标志(步骤S21)。

在步骤S21之后,控制单元16控制电极控制单元18以向电极6施加Vcc,并向电极8施加Vss(步骤S22)。在步骤S22之后,控制单元16在区域Fmn中检测第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的X坐标(步骤S23)。在步骤S23之后,处理前进到步骤S24。步骤S24~S27的处理与图4中的步骤S10~S13相同。即,在检测X坐标之后,控制单元16在与在步骤S3中被判定为处于“被触摸”状态的区域不同的区域中判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触。

当在步骤S26中判定为“是”时,控制单元16控制电极控制单元18以释放对电极6和电极8施加的电压(步骤S28)。即,控制单元16在每个区域Fmn中检测了X坐标之后释放对电极6和电极8施加的电压。在步骤S28之后,处理前进到图7中的步骤S29(见图中的“A”)。

如图7所示,在步骤S28之后,控制单元16控制电极控制单元18以向电极10施加Vcc,并向电极12施加Vss(步骤S29)。在步骤S29之后,控制单元16将行号m设置为1,将列号n设置为1(步骤S30)。在步骤S30之后,控制单元16检查是否对区域Fmn中的一个区域设置了标志(步骤S31)。在步骤S31之后,控制单元16判定是否设置了标志(步骤S32)。

当判定为“是”时,控制单元16在设置了标志的区域中检测第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的Y坐标(步骤S33)。即,控制单元16记忆第一导电膜2与第二导电膜4接触的区域,并且在所记忆的区域中检测Y坐标。在步骤S33之后,或者当在步骤S32中的判定为“否”时,处理前进到步骤S34。步骤S34~S37与步骤S10~S13相同。当在步骤S36中判定为“是”时,控制单元16控制电极控制单元18以释放对电极10和电极12施加的电压(步骤S38)。在步骤S38之后,结束处理。

根据第一实施方式,由于在每个区域Fmn中检测了X坐标后释放电压、然后在每个区域Fmn中检测了Y坐标后释放电压,因此不管区域的个数如何,释放次数为两次(图6中的步骤S28和图7中的步骤S38)。即,通过减少释放次数,可以提高触摸板的操作速度。而且,记忆第一导电膜2与第二导电膜4接触的区域,并且在所记忆的区域中检测Y坐标(图6中的步骤S21和图7中的步骤S33)。由于不必再次判定第一导电膜2是否与第二导电膜4接触,因此可以进一步提高触摸板的操作速度。

以下将对第一实施方式的变形进行说明。图8和图9是示出第一实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。

如图8所示,步骤S20、S1~S3和S21与图6所示相同。当在步骤S20中判定为“否”时,或者在步骤S21之后,处理前进到步骤S24。步骤S24~S27与图6所示相同。图8所示的处理与图6所示的处理的不同在于不进行电压的施加(步骤S22)、X坐标的检测(步骤S23)和释放(步骤S28)。当在步骤S26中判定为“是”时,处理前进到图9中的步骤S29(见图中的“B”)。

如图9所示,控制单元16控制电极控制单元18以向电极6施加Vcc,并向电极8施加Vss(步骤S29)。在步骤S29之后,控制单元16将行号m设置为1(m=1),将列号n设置为1(n=1)(步骤S30)。在步骤S30之后,进行与图7所示的步骤S31和S32相同的处理。当在步骤S32中判定为“是”时,控制单元16检测第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的X坐标(步骤S40)。

在步骤S40之后,或者当在步骤S32中判定为“否”时,处理前进到步骤S24。步骤S24~S27与图6所示相同。当在步骤S26中判定为“是”时,控制单元16控制电极控制单元18以释放对电极6和电极8施加的电压(步骤S41)。即,控制单元16如图8所示在每个区域Fmn中判定第一导电膜2是否与第二导电膜4接触,然后如图9所示在每个区域Fmn中检测X坐标。在步骤S41之后,处理前进到图7中的步骤S29(见图中的“A”)。在图7中的步骤S38之后,结束处理。

根据第一实施方式的变形,在每个区域Fmn中检测了X坐标后释放电压、然后在每个区域Fmn中检测了Y坐标后释放电压。因此不管区域的个数如何,释放次数为两次。从而可以提高触摸板的操作速度。而且,根据第一实施方式的变形,在每个区域中进行被触摸检查后检测X坐标,然后检测Y坐标。从而不必重复进行图6中的步骤S3~S23所述的被触摸检查和X坐标的检测。因此可以进一步提高触摸板的操作速度。

以上在第一实施方式中对在检测Y坐标之前检测X坐标的处理进行了说明,但也可以在检测X坐标之前检测Y坐标。即,可以通过在检测了X坐标和Y坐标中的一个之后释放电压,然后检测X坐标和Y坐标中的另一个,从而减少释放的次数和提高触摸板的操作速度。

以上如图1B和图1C所示,利用第一导电膜2被分割成16个区域的情况进行了说明,但第一导电膜2可以被分割成多于或少于16个的区域。另外,行数可以不同于列数。在图3中,同一行中的多个区域被连接到一个多路器和一个下拉电阻,但连接方法不限于此。例如,也可以将同一列中的多个区域连接到一个多路器和一个下拉电阻。

[第二实施方式]

以下将对第二实施方式进行说明。图10A是示出第二实施方式所涉及的触摸板200的平面图。图10B是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板210的平面图。在图10B中,还示出了后述的向量的方向。以下对图10A中的实施方式进行说明。

在多点输入触摸板中,有时使用单点输入模式。触摸板200为单点输入模式。在触摸板中,有时通过滑动触摸了触摸板的手指而在触摸板上进行描画。在这样的描画模式下,希望提高触摸板的操作速度以进行平滑的描画。以下参照图10A和10B对这一点进行说明。

如图10A所示,触摸板200的第一导电膜2被分割为区域F11~F44。例如,在描画模式下,当触摸了区域F22时,手指从区域F22移动从而还触摸区域F22的相邻区域。此时,如果从区域F11依次进行坐标检测,则触摸板对于手指移动的处理速度变慢,可能难以进行平滑描画。

在第二实施方式所涉及的触摸板200中,当第一导电膜2与第二导电膜4在阴影所示的区域F22中接触时,优先于其它区域而在区域F22和与区域F22相邻的区域F11~F13、F21、F23和F31~F33中判定第一导电膜2与第二导电膜4的接触。

以下参照流程图对第二实施方式所涉及的触摸板200的动作进行更详细的说明。图11~图13是示出第二实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

图11所示的步骤S1~S3和步骤S24~S27与此前说明的相同。当在步骤S3中判定为“否”时,处理前进到步骤S24,而当在步骤S26中判定为“是”时,结束处理。当在步骤S3中判定为“是”时,意味着第一导电膜2与第二导电膜4在区域Fmn中接触,则控制单元16输出第一导电膜2与第二导电膜4在区域Fmn中接触的点的X坐标和Y坐标(步骤S50)。例如按照图4所示的步骤S4~步骤S9的处理来进行X坐标和Y坐标的输出。

在步骤S50之后,处理前进到图12中的步骤S51(见图中的“C”)。控制单元16在通过步骤S3被判定为处于“被触摸”状态的区域Fmn中检查第一导电膜2是否与第二导电膜4接触(步骤S51)。在步骤S51之后,控制单元16判定第一导电膜2是否与第二导电膜4接触(步骤S52)。当在步骤S52中判定为“是”时,控制单元16输出第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的X坐标和Y坐标(步骤S53)。即,当在步骤S50中控制单元16输出第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的坐标时,控制单元16在步骤S50之后的步骤中在通过步骤S50输出了坐标的区域Fmn中进行被触摸检查和坐标检测。在步骤S53之后,处理前进到图14中的步骤S76(见图12和图14中的“C1”)。前进到C1后的处理将在后述的第二实施方式的变形中进行说明。

当在步骤S52中判定为“否”时,控制单元16判定m是否大于1(步骤S54)。当判定为“否”时,控制单元16将p设置为m(p=m)(步骤S55)。当在图11的步骤S3中判定第1行的区域处于“被触摸”状态时,步骤S54中的判定为“否”。当判定为“是”时,控制单元16将p设置为m-1(p=m-1)(步骤S56)。

在步骤S55或步骤S56之后,控制单元16判定n是否大于1(步骤S57)。当判定为“否”时,控制单元16将q设置为n(q=n)(步骤S58)。当在图11的步骤S3中判定第1列的区域处于“被触摸”状态时,步骤S57中的判定为“否”。当判定为“是”时,控制单元16将q设置为n-1(q=n-1)(步骤S59)。

在步骤S58或步骤S59之后,控制单元16判定m是否小于MAX(步骤S60)。这里,MAX是行号的最大号“4”。当判定为“否”时,控制单元16将r设置为m(r=m)(步骤S61)。当在图11的步骤S3中判定第4行的区域处于“被触摸”状态时,步骤S60中的判定为“否”。当判定为“是”时,控制单元16将r设置为m+1(r=m+1)(步骤S62)。

在步骤S61或步骤S62之后,控制单元16判定n是否小于MAX(步骤S63)。这里,MAX是列号的最大号“4”。当在步骤S63中判定为“否”时,控制单元16将s设置为n(s=n)(步骤S64)。当在图11的步骤S3中判定第4列的区域处于“被触摸”状态时,步骤S63中的判定为“否”。当在步骤S63中判定为“是”时,控制单元16将s设置为n+1(s=n+1)(步骤S65)。在步骤S65之后,处理前进到图13中的步骤S66(见图中的“D”)。

控制单元16将PP设置为p(pp=p)(步骤S66)。即,控制单元16记忆在步骤S55或S56中设置的p的值。在步骤S66之后,控制单元16判定是否p等于m(p=m)且q等于n(q=n)(步骤S67)。当判定为“否”时,控制单元16在区域Fpq中检查第一导电膜2是否与第二导电膜4接触,即,控制单元16进行被触摸检查(步骤S68)。在步骤S68之后,控制单元16在区域Fpq中判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触(步骤S69)。即,控制单元16在与区域Fmn相邻的区域Fpq中判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触。

当在步骤S69中判定为“是”时,控制单元16输出第一导电膜2与第二导电膜4在区域Fpq中接触的点的X坐标和Y坐标(步骤S70)。即,控制单元16在与区域Fmn相邻的区域Fpq中输出坐标。在步骤S70之后,控制单元16将m设置为p(m=p),将n设置为q(n=q)(步骤S71)。在步骤S71之后,处理返回到图13中的步骤S51(见图中的“C”)。换言之,当控制单元16在与区域Fmn相邻的区域Fpq中输出了坐标时,不在区域Fpq以外的区域中输出坐标。

当在步骤S67中判定为“是”时,或者当在步骤S69中判定为“否”时,控制单元16判定p是否等于r(p=r)(步骤S72)。当判定为“否”时,控制单元16将p设置为p+1(p=p+1)(步骤S73)。即,区域Fpq的行成为下一行。在步骤S73之后,处理返回到步骤S67。这意味着控制单元16在通过步骤S69被判定为处于“被触摸”状态的区域Fpq的下一行的区域中执行从步骤S67开始的处理。

当在步骤S72中判定为“是”时,控制单元16判定q是否等于s(q=s)(步骤S74)。当判定为“否”时,控制单元16将p设置为PP(p=pp),并且将q设置为q+1(q=q+1)(步骤S75)。这里,PP是通过步骤S69被判定为处于“被触摸”状态的区域Fpq的行号p(见步骤S66和S69)。

在步骤S75之后,处理返回到步骤S67。换言之,控制单元16在通过步骤S69被判定为处于“被触摸”状态的区域的同一行和下一列的区域Fpq中执行从步骤S67开始的处理。重复上述处理,当在步骤S74中判定为“是”时,结束处理。这意味着在与通过图11的步骤S50输出了坐标的区域Fmn相邻的区域中进行被触摸检查后结束处理。

以下参照图10A对上述处理进行更具体的说明。例如,当在区域F22中输出了坐标时(图11中的步骤S50),控制单元16判定第一导电膜2与第二导电膜4是否在区域F11中接触(图13中的步骤S68和S69)。当在步骤S69中判定为“是”时,在区域F11中输出坐标,处理返回到图12中的处理。当判定为“否”时,控制单元16在区域F21中执行从步骤S67开始的处理(步骤S72和S73)。重复进行步骤S67~S73,当在区域F33中进行了处理时,结束处理。这意味着控制单元16在区域F22和与区域F22相邻的区域中检测坐标,而不在其它区域中检测坐标。

根据第二实施方式,当在区域Fmn中输出了坐标时(图11中的步骤S50),在后续步骤中(从图12中的步骤S51开始),控制单元16在输出了坐标的区域Fmn和与区域Fmn相邻的区域Fpq中检测第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的坐标(图13中的步骤S68~S70)。而且,当控制单元16在区域Fmn中输出了坐标时(图11中的步骤S50),在区域Fmn和与区域Fmn相邻的区域Fpq以外的区域中不进行被触摸检查(图13中的步骤S72和S74)。这意味着控制单元16不在区域Fmn和与Fmn相邻的区域Fpq以外的区域中检测坐标。而且,当在区域Fpq中输出了坐标时,意味着在步骤S69中判定为“是”,控制单元16不在区域Fmn和与Fmn相邻的区域中的、已经进行了被触摸检查的区域以外的区域中检测坐标。这意味着触摸板200是单点输入触摸板。

如上所述,由于优先于其它区域而在以前检测过坐标的区域及其相邻区域中检测坐标,因此,与依次在所有分割区域中进行坐标检测的情况相比,能够提高触摸板的操作速度。而且,在检测了坐标时,不在已经进行了被触摸检查的区域以外的区域中进行坐标检测。结果,可以提高触摸板的操作速度,并且可以在描画模式下实现对于输入的平滑描画。另外,第二实施方式所涉及的触摸板200可以处理精细的描画。

以下对第二实施方式的变形进行说明。如图10B所示,设想如下情况:第一导电膜2与第二导电膜4在图中阴影所示的区域F22中接触,然后,按压触摸板的手指滑动,第一导电膜2与第二导电膜4还在与区域F22相邻的区域中接触。在第二实施方式的变形所涉及的触摸板210中,当手指按压触摸板并从区域F22滑动到区域F13时,在区域F22和沿着从区域F22到区域F13的方向的区域F12、F13和F23中判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触。区域F12、F13和F23用斜线示出。

以下参照流程图对第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制进行更详细的说明。图14~图22是示出第二实施方式的变形所涉及的触摸板的控制的流程图。图11所示的控制也在第二实施方式的变形中执行。

如图14和图12所示,在图12中的步骤S53之后,处理前进到图14中的步骤S76(见图中的“C1”)。控制单元16检测从区域Fmn朝向与Fmn相邻并且输出了坐标的区域的向量(步骤S76)。换言之,控制单元16基于在区域Fmn和相邻区域中的坐标的输出来判定方向。

在步骤S76之后,控制单元16判定在步骤S76中判定的向量的方向是否为0°90°(步骤S77)。当判定为“是”时,处理前进到图15中的步骤S80(见图中的“E”)。

当判定为“否”时,控制单元16判定在步骤S76中判定的向量的方向是否为90°~180°(步骤S78)。当判定为“是”时,处理前进到图17中的步骤S80(见图中的“F”)。

当判定为“否”时,控制单元16判定在步骤S76中判定的向量的方向是否为180°~270°(步骤S79)。当判定为“是”时,处理前进到图19中的步骤S80(见图中的“G”)。

当判定为“否”时,控制单元16判定在步骤S76中判定的向量的方向是否为270°~360°,并且处理前进到图21中的步骤S80(见图中的“H”)。

以下将对向量的方向为0°90°的情况进行说明。图15和图16是示出向量的方向为0°90°的情况下的控制的流程图。

如图15所示,控制单元16在通过图11中的步骤S50输出了坐标的区域Fmn中进行被触摸检查(步骤S80)。在步骤S81之后,控制单元16判定区域Fmn是否处于“被触摸”状态。当判定为“是”时,控制单元16输出X坐标和Y坐标(步骤S82)。在步骤S82之后,处理返回到图13中的步骤S66(见图中的“D”)。

当在步骤S81中判定为“否”时,控制单元16判定m是否大于1(步骤S83)。当判定为“否”时,意味着区域Fmn位于第1行,则控制单元16判定n是否小于MAX(步骤S84)。当判定为“是”时,处理前进到后述的图16中的步骤S94(见图中的“J”)。当判定为“否”时,意味着区域Fmn位于第4列,则处理结束(见图15中的“K”和图16)。

当在步骤S83中判定为“是”时,控制单元16在区域Fm-1n中进行被触摸检查(步骤S85)。即,控制单元16在区域Fmn的上一行的区域中执行被触摸检查。在步骤S85之后,控制单元16判定区域Fm-1n是否处于“被触摸”状态(步骤S86)。

当判定为“是”时,控制单元16输出X坐标和Y坐标(步骤S87)。在步骤S87之后,控制单元16将m设置为m-1(m=m-1)(步骤S88)。在步骤S88之后,处理返回到图13中的步骤S66(见图中的“D”)。当在步骤S86中判定为“否”时,处理前进到图16中的步骤S89(见图中的“I”)。

如图16所示,当在步骤S86中判定为“否”时,控制单元16判定n是否小于MAX(步骤S89)。当判定为“否”时,结束处理。当判定为“是”时,控制单元16在区域Fm-1n+1中进行被触摸检查(步骤S90)。这意味着控制单元16在区域Fmn的上一行和下一列的区域中执行被触摸检查。控制单元16判定区域Fm-1n+1是否处于“被触摸”状态(步骤S91)。

当判定为“是”时,控制单元16输出X坐标和Y坐标(步骤S92)。在步骤S92之后,控制单元16将m设置为m-1(m=m-1),将n设置为n+1(n=n+1)(步骤S93)。在步骤S93之后,处理返回到图14中的步骤S76(见图中的“C1”)。

当在步骤S91中判定为“否”时,控制单元16在区域Fmn+1中进行被触摸检查(步骤S94)。当在图15中的步骤S84中判定为“是”时,控制单元16执行步骤S94的处理。即,控制单元16在区域Fmn的下一列的区域中执行被触摸检查。在步骤S94之后,控制单元16判定区域Fmn+1是否处于“被触摸”状态(步骤S95)。

当判定为“是”时,控制单元16输出X坐标和Y坐标(步骤S96)。在步骤S96之后,控制单元16将n设置为n+1(n=n+1)(步骤S97)。在步骤S97之后,处理返回到图14中的步骤S76(见图中的“C1”)。当在步骤S95中判定为“否”时,结束处理。

以下将对向量的方向为90°180°的情况进行说明。图17和图18是示出向量的方向为90°~180°的情况下的控制的流程图。对于与图15和图16所示的处理相同的处理将省略说明。

当在图17中的步骤S83中判定为“否”时,控制单元16判定n是否小于1(步骤S98)。当判定为“是”时,处理前进到后述的图18中的步骤S105(见图中的“L”)。当判定为“否”时,处理结束(见图17中的“M”和图18)。

当在步骤S83中判定为“是”时,控制单元16在区域Fm-1n中进行被触摸检查(步骤S99),判定区域Fm-1n是否处于“被触摸”状态(步骤S100)。即,控制单元16在区域Fmn的上一行的区域中执行被触摸检查。当判定为“是”时,执行步骤S87和S88,处理返回到图14中的步骤S76。当判定为“否”时,处理前进到图18中的步骤S101(见图中的“N”)。

如图18所示,在步骤S100之后,控制单元16判定n是否大于1(步骤S101)。当判定为“否”时,结束处理。当判定为“是”时,控制单元16在区域Fm-1n-1中进行被触摸检查(步骤S102),判定区域Fm-1n-1是否处于“被触摸”状态(步骤S103)。即,控制单元16在区域Fmn的上一行和上一列的区域中执行被触摸检查。

当在步骤S103中判定为“是”时,控制单元16输出坐标(步骤S92),将m设置为m-1(m=m-1),将n设置为n-1(n=n-1)(步骤S104)。然后,处理返回到图14中的步骤S76(见图中的“C1”)。

当在步骤S103中判定为“否”时,控制单元16在区域Fmn-1中进行被触摸检查(步骤S105),判定区域Fmn-1是否处于“被触摸”状态(步骤S106)。即,控制单元16在区域Fmn的上一列的区域中执行被触摸检查。更具体地说,例如当在图11的步骤S50中在区域F22中输出了坐标时,在步骤S105中在区域F21中进行被触摸检查。当在步骤S106中判定为“是”时,控制单元16输出坐标(步骤S96),将n设置为n-1(步骤S107)。当在步骤S106中判定为“否”时,结束处理。

以下将对向量的方向为180°~270°的情况进行说明。图19和图20是示出向量的方向为180°~270°的情况下的控制的流程图。对于与前述处理相同的处理将省略说明。

如图19和图20所示,当向量的方向为180°~270°时,控制单元16在区域Fmn的下一行的区域Fm+1n(图19中的步骤S109)、区域Fmn的下一行和上一列的区域Fm+1n-1(图20中的步骤S112)、以及区域Fmn的上一列的区域Fmn-1(图20中的步骤S105)中进行被触摸检查。

以下将对向量的方向为270°~360°的情况进行说明。图21和图22是示出向量的方向为270°~360°的情况下的控制的流程图。对于与前述处理相同的处理将省略说明。

如图21和图22所示,当向量的方向为270°~360°时,控制单元16在区域Fmn的下一行的区域Fm+1n(图21中的步骤S109)、区域Fmn的下一行和下一列的区域Fm+1n+1(图22中的步骤S112)、以及区域Fmn的下一列的区域Fmn+1(图22中的步骤S105)中进行被触摸检查。

参照图10B对上述处理进行更具体的说明。例如,当在区域F22中输出了坐标(图11中的步骤S50)并且在区域F33中输出了坐标(图13中的步骤S70)时,控制单元16根据输出坐标的操作来计算方向(图14中的步骤S76)。这里,方向为270°360°(步骤S79中为““否”)。控制单元16判定第一导电膜2与第二导电膜4是否在区域F22中接触(图21中的步骤S80和S81)。当判定为“是”时,在区域F22中输出坐标,处理返回到图14中的步骤S76。当判定为“否”时,在区域F32、F33和F23中执行被触摸检查(图22中的步骤S109、图22中的步骤S112和S95)。当在步骤S95中判定为“否”时,结束处理。即,控制单元16在区域F22和从区域F22沿着270°~360°的方向的区域中检测坐标,而不在其它区域中检测坐标。

根据第二实施方式的变形,当在区域Fmn中输出了坐标时(图11中的步骤S50),在后续步骤中(从图12中的步骤S51开始),控制单元16在沿着根据图14中的操作判定的方向的区域中检测坐标。从而可以提高触摸板的操作速度。特别是,当触摸板被手指滑动着按压时,例如可以在描画输入模式下对输入进行平滑的描画。

在图10B所示的例子中,向量的方向包括沿着触摸板210的边的方向的4个方向,但不限于该例子。即,该方向可以多于或少于4个方向,并且不必沿着触摸板的边。在第二实施方式和第二实施方式的变形中,在与区域Fmn相邻的区域中检测坐标,但检测坐标的区域不限于此。例如,可以在离区域Fmn两行和/或两列内的区域中检测坐标,或者在离区域Fmn三行和/或三列内的区域中检测坐标。即,可以通过在与区域Fmn相邻的区域中检测坐标而提高触摸板的操作速度。

[第三实施方式]

现在将对第三实施方式进行说明。说明设置有引出布线的触摸板。图23A是示出设置有引出布线的触摸板300的平面图,图23B是示出包括引出布线的区域的放大图(见图23A中的虚线区域)。

如图23A和图23B所示,第一导电膜2被分割成多个区域,每个区域都设置有用于连接到下拉电阻的布线41。布线41设置成沿着触摸板的上边和下边。因此,区域F21~F24和区域F31~F34分别都具有向列方向引出的引出布线。即,例如图23B所示,区域F31(第一区域)包括主区域F31a和引出布线F31b。引出布线F31b与区域F41相邻地形成。换言之,引出布线F31b形成在区域F41与F42之间。相反,区域F41(第二区域)不设置引出布线,因为其与触摸板的下边接触。区域F21~F24的各个引出布线被引出到上边,并且区域F11~F14不设置引出布线。

由于引出布线F31b的宽度小于主区域F31a的宽度,因此,引出布线F31b的电阻高于主区域F31a的电阻。因此,区域F31的电阻高于区域F41的电阻。结果,在供给区域F31中的下拉电阻的电位与供给区域F41中的下拉电阻的电位之间产生电位差。例如,有时通过改变下拉电阻的值来校正电位差,从而使从区域F31发送的信号的电位与从区域F41发送的信号的电位相同。作为校正方法,有时对从区域F31发送的信号施加偏移电压。而且,为了滤除从区域F31发送的信号中产生的噪声,使滤波器的屏蔽频率在滤波器与区域F31连接的情况与滤波器与区域F41连接的情况之间不同。更具体地说,在滤波器与区域F31连接的情况下,与滤波器和区域F41连接的情况相比,将滤波器的通过频带设置在低频侧。

但是,如果改变下拉电阻的电阻值或者滤波器的屏蔽频率的次数增加,则存在触摸板的操作速度变慢的可能性。特别是,在改变屏蔽频率之后直到滤波器稳定动作之前,需要一定的时间量。因此,如果依次在多个区域中检测坐标,则存在触摸板的操作速度变慢的可能性。

以下将对第三实施方式所涉及的触摸板进行说明。在第三实施方式所涉及的触摸板中,按照行将多个区域分组,按组检测坐标。即,区域F21~F24的主区域形成一组(第一组),区域F31~F34的主区域形成一组(第一组),区域F11~F14和区域F21~F24的引出布线形成一组(第二组),区域F41~F44和区域F31~F34的引出布线形成一组(第二组)。

以下将对第三实施方式所涉及的触摸板的区域选择单元和滤波单元进行说明。图24是示出第三实施方式所涉及的触摸板的区域选择单元和滤波单元的框图(见图2)。

如图24所示,区域选择单元20设置有多路器30、32、34和36。滤波单元22设置有滤波器42、44、46和48。滤波器42~48是低通滤波器。

按行将区域F11~F44分组。这些组被连接到各个多路器30~36。多路器30、32、34和36分别与滤波器42、44、46和48连接。多路器接收从各区域发送的信号和从控制单元16发送的选择信号(见图2)。多路器30可以利用选择信号从由区域F11~F14发送的信号中选择从检测坐标的区域发送的信号。多路器32~36同样如此。即,区域选择单元20可以从位于同一行的组中选择区域。

连接到第一组的滤波器44和46的通过频带与连接到第二组的滤波器42和48的通过频带相比,位于低频侧。这意味着第一组和第二组被连接到屏蔽频率彼此不同的滤波器。

以下将对第三实施方式所涉及的触摸板的控制进行说明。图25是示出第三实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

如图25所示,控制单元16在第1行中执行被触摸检查(步骤S120)。在步骤S120之后,控制单元16在位于第1行的每个区域中检测X坐标和Y坐标(步骤S121)。这意味着控制单元16执行图4所示的步骤S4~步骤S9的处理。

在步骤S121之后,控制单元16在第2行中执行被触摸检查(步骤S122)。在步骤S122之后,控制单元16在位于第2行的每个区域中检测X坐标和Y坐标(步骤S123)。在步骤S123之后,控制单元16在第3行和第4行中执行相同的处理(步骤S124~S127),结束处理。

根据第三实施方式,将多个区域分成包括引出布线的组和不包括引出布线的组,并且将这些组与屏蔽频率彼此不同的滤波器连接。控制单元16在每个组中检测坐标。因此,由于不需要在每个区域中校正电位差和改变滤波器的屏蔽频率,因此可以提高触摸板的操作速度。

如图24所示,在第三实施方式中,将各组连接到不同的滤波器,但结构不限于该实施方式。例如,如图23A所示,由于区域F21~F24和区域F31~F34设置有引出布线,因此它们的电阻变高。从而,可以将区域F21~F34连接到同一滤波器。另外,可以将没有设置引出布线的区域F11~F14和区域F41~F44连接到同一滤波器。从而,由于可以减少滤波器的个数,因此可以减小触摸板的尺寸和降低成本。如图23A所示,在第三实施方式中,引出布线被引出到列方向,但也可以引出到行方向。这种情况下,按列来将区域分组。而且,可以将引出布线引出到行方向和列方向以外的方向。

[第四实施方式]

以下将对第四实施方式进行说明。在第四实施方式所涉及的触摸板中,例如如图23A所示,第一导电膜2被分割成多个区域,而区域F21~F24以及区域F31~F34分别包括引出到列方向的引出布线。区域F11~F44按行分组。即,区域F21~F24的主区域形成一组(第一组),区域F31~F34的主区域形成一组(第一组)。区域F11~F14和区域F21~F24的引出布线形成一组(第二组),区域F41~F44和区域F31~F34的引出布线形成一组(第二组)。

以下将对第四实施方式所涉及的区域选择单元进行说明。图26A~26C是示出第四实施方式所涉及的区域选择单元的图。在各图中,示出了与区域F11~F14有关的区域选择单元20的部分。

如图26A所示,区域选择单元20的多路器30与区域F11~F14连接。这意味着将区域按行分组并连接到一个多路器。而且,多路器30接收响应于第一导电膜2与第二导电膜4的接触而从区域F11~F14发送的信号和从控制单元16发送的选择信号。另外,从区域F11~F14发送的信号被输入二极管50。二极管50的输出侧通过节点51连接到一条布线。换言之,节点51用作将响应于第一导电膜2与第二导电膜4的接触而从区域F11~F14发送的信号组合成一个信号(以下称为“组合信号”)的组合单元。二极管50防止输出侧的信号逆流到输入侧。例如,二极管50防止从区域F11发送的信号逆流而进入与区域F12~F14连接的布线。从区域F11~F14发送的信号经由二极管50被输入滤波单元22并且被输入控制单元16(见图2)。

控制单元16可以通过接收组合信号而在区域F11~F14中的至少一个区域中检测第一导电膜2与第二导电膜4的接触。换言之,控制单元16响应于组合信号的接收而在由区域F11~F14构成的组中判定第一导电膜2与第二导电膜4接触。

区域F21~F24、区域F31~F34和区域F41~F44形成各个组,并且被连接到与这些组对应的多路器和滤波器。

以下将对第四实施方式所涉及的触摸板的控制进行说明。图27是示出第四实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

如图27所示,控制单元16将m设置为1(m=1)(步骤S130)。在步骤S130之后,控制单元16在第m列中执行被触摸检查(步骤S131)。在步骤S131之后,控制单元16判定第m列是否处于“被触摸”状态(步骤S132)。即,控制单元16在每个组中判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触。当判定为“否”时,处理前进到后述的步骤S139。

当判定为“是”时,控制单元16将n设置为1(n=1)(步骤S133)。在步骤S133之后,控制单元16在区域Fmn中执行被触摸检查(步骤S134),判定区域Fmn是否处于“被触摸”状态(步骤S135)。

当判定为“是”时,控制单元16在区域Fmn中检测坐标(步骤S136)。在步骤S136之后,或者当在步骤S135中判定为“否”时,控制单元16判定n是否等于MAX(n=MAX)(步骤S137)。当判定为“是”时,控制单元16将n设置为n+1(n=n+1)(步骤S138),处理返回到步骤S134。这意味着在位于通过步骤S132判定是否处于“被触摸”状态的第m列的区域中的、以前执行了从步骤S134到步骤S136的处理的区域的下一行的区域中执行步骤S134~步骤S136的处理。

当在步骤S137中判定为“否”时,控制单元16判定m是否等于MAX(m=MAX)(步骤S139)。当判定为“是”时,控制单元16将m设置为m+1(m=m+1)(步骤S140),处理返回到步骤S131。这意味着在通过步骤S132判定了是否处于“被触摸”状态的列的下一列中执行步骤S131~步骤S139的处理。当在步骤S139中判定为“是”时,结束处理。

根据第四实施方式,控制单元16在每个组中判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触(在图27的步骤S131和S132中判定为“是”的情况),并且在第一导电膜2与第二导电膜4接触的组中检测坐标(步骤S134)。而且,控制单元16不在第一导电膜2不与第二导电膜4接触的组中检测坐标(步骤S132中判定为“否”的情况)。从而,与依次在每个区域中执行被触摸检查和坐标检测的情况相比,执行被触摸检查和坐标检测的次数少。因此可以提高触摸板的操作速度。

特别是,当如图23A和23B所示形成引出布线时,可以将多个区域分割成包括引出布线的组和不包括引出布线的组,并且可以将这些组与屏蔽频率彼此不同的滤波器连接。因此,由于不需要针对每个区域校正电位差并改变滤波器的屏蔽频率,因此可以进一步提高触摸板的操作速度。

节点51将从形成一个组的区域发送的信号组合成一个信号,控制单元16根据组合信号的接收而在组中判定第一导电膜2与第二导电膜4接触。因此,可以利用简单的结构自动地判定第一导电膜2与第二导电膜4接触的组并检测坐标。

在第四实施方式中,对按行将多个区域分组的情况进行了说明,但分组规则不限于该实施方式。例如,可以按列来将区域分组。即,可以由多个区域中的一些区域来形成每个组。而且,在第四实施方式中,将多个区域分割成包括引出布线的组和不包括引出布线的组,但分组规则不限于该实施方式。

以下将对第四实施方式的变形进行说明。图26B和26C是示出第四实施方式的变形所涉及的区域选择单元的图。

如图26B所示,可以使用半导体开关52来代替二极管50。这种情况下,控制信号从控制单元16输入到半导体开关52。

如图26C所示,可以使用磁开关54来代替二极管50。这种情况下,控制信号从控制单元16输入到磁开关54。

[第五实施方式]

以下将对第五实施方式进行说明。图28A是示出第五实施方式所涉及的触摸板的包括引出布线的区域的放大图(见图23A中的虚线区域)。

如图28A所示,区域F31包括主区域F31a和引出布线F31b。引出布线F31b位于区域F41与区域F42之间。

这里,设想如斜线所示第一导电膜2与第二导电膜4在区域F41、F42和引出布线31b中接触的情况。这例如是手指等在第一导电膜2中触摸了跨过区域F41、引出布线F31b和区域F42的点的情况。这种情况下,即使用户意图输入单个点,也存在被判定为输入了三个点的情况。从而可能被判定为在区域F31中进行了输入,发生触摸板的错误操作。

当各区域中的坐标之差在给定范围内时,第五实施方式所涉及的触摸板判定输入了单个点并输出坐标。参照流程图进行详细说明。图29是示出第五实施方式所涉及的触摸板的控制的流程图。

如图29所示,控制单元16(见图2)在区域Fmn中执行被触摸检查(步骤S141),判定区域Fmn是否处于“被触摸”状态(步骤S142)。这意味着控制单元16在每个区域中判定第一导电膜2与第二导电膜4是否接触。

如果判定为“是”,则控制单元16在区域Fmn中检测第一导电膜2与第二导电膜4接触的点的X坐标和Y坐标(步骤S143)。在步骤S143之后,控制单元16判定所检测的X坐标之差和所检测的Y坐标之差是否在给定范围内(步骤S144)。当判定为“是”时,控制单元16根据在步骤S144中判定了是否位于给定范围内的坐标来计算坐标,并输出所计算的坐标(步骤S145)。在步骤S145之后,当在步骤S142中判定为“否”时,或者当在步骤S144中判定为“否”时,结束处理。

以下参照图28A的例子对步骤S144和S145的处理进行具体说明。这里,在区域F41(第一区域)中检测的X坐标和Y坐标(第一坐标)被分别描述为X(F41)和Y(F41)。同样,在区域F42(第二区域)中检测的坐标(第二坐标)被描述为X(F42)和Y(F42)。另外,在区域F31(第三区域)的引出布线F31b中检测的坐标(第三坐标)被描述为X(F31b)和Y(F31b)。

当步骤S144中的给定范围为α时,控制单元16判定是否|X(F41)-X(F42)|小于α、|X(F42)-X(F31b)|小于α、|Y(F41)-Y(F42)|小于α、|Y(F42)-Y(F31b)|小于α(步骤S144)。当所检测的坐标满足上述关系时,控制单元16判定输入了单个点,并且输出根据X(F41)、X(F31b)和X(F42)计算的X坐标(第四坐标)。另外,控制单元16输出根据Y(F41)、Y(F31b)和Y(F42)计算的Y坐标(第四坐标)(步骤S145)。即,控制单元16输出基于所检测的三个坐标的坐标。

根据第五实施方式,即使在多个区域和引出布线中检测出坐标,也输出基于所检测的坐标而计算的坐标。因此可以提高触摸板的坐标检测的精度。特别是,由于忽略引出布线中的输入而判定在单个点进行了输入,因此可以防止错误操作。

在步骤S145中,控制单元16输出例如在区域F41和F42中检测的坐标的平均坐标。另外,控制单元16可以输出平均坐标以外的坐标。以上对在X坐标和Y坐标中给定范围为α的情况进行了说明。但是,给定范围可以在X坐标和Y坐标之间不同。

以下将对第五实施方式的变形进行说明。图28B是示出第五实施方式的变形所涉及的触摸板的引出布线的放大图(见图23A中的虚线区域)。

如图28B中的阴影所示,设想除了图28A所述的区域F41、F42以及区域F31的引出布线31b以外,第一导电膜2与第二导电膜4还在区域F31的主区域F31a中接触的情况。这种情况下,如图中的黑点所示,可能输出在斜线所指示的区域和阴影所指示的区域中检测的坐标的平均坐标。这种情况下,不输出在阴影区域进行了实际输入的点的坐标。因此,可以判定进行了非意图的输入,从而可能发生触摸板的错误操作。在第五实施方式的变形中,输出进行了实际输入的点的坐标。以下将参照图29所示的流程图和图28B的例子进行更详细的说明。

由于已经对图29中的步骤S141和S142进行了说明,因此省略该说明。在步骤S142之后,控制单元16检测X(F41)、Y(F41)、X(F42)、Y(F42)、X(F31b)、Y(F31b)、X(F31a)和Y(F31a)(步骤S143)。X(F31a)和Y(F31a)是第一导电膜2与第二导电膜4在区域F31的主区域F31a中接触的点的坐标(第五坐标)。

在步骤S143之后,控制单元16判定所检测的X坐标之差和所检测的Y坐标之差是否在给定范围内(步骤S144)。当判定为“是”时,控制单元16如图28A和图29所述,根据在区域F41、F42和区域F31的引出布线F31b中检测的坐标来计算一个坐标。所检测的X坐标和Y坐标被描述为X(F41,F42)和Y(F41,F42)。而且,控制单元16计算图28B所示的黑点的坐标X和y(第六坐标)。坐标X是X(F31a)和X(F41,F42)的平均,坐标y是Y(F31a)和Y(F41,F42)的平均。

控制单元16根据X(F41,F42)、x、Y(F41,F42)和y计算并输出作为第一导电膜2与第二导电膜4在主区域F31a中实际接触的点的坐标的X(F31a)和Y(F31a)(步骤S145)。更具体地说,通过方程X(F41a)=2x-X(F41,F42)来计算X(F41a),通过方程Y(F41a)=2y-Y(F41,F42)来计算Y(F41a)。在步骤S145之后,结束处理。

根据第五实施方式的变形,即使如图28B所示在两个点检测出坐标,也可以输出实际进行了输入的点的坐标。因此可以提高触摸板的坐标检测精度,防止错误操作。

这里所述的所有例子和条件性语言都是为了教导目的,以帮助读者理解本发明和由发明人贡献的概念以促进技术进步,应当被解释为不限于这些具体记载的例子和条件,这些例子在说明书中的组织也不涉及本发明的优劣的展示。尽管详细说明了本发明的实施方式,但应当理解,在不脱离本发明的精神和范围的情况下,可以对本发明进行各种改变、替换和变更。

去获取专利,查看全文>

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号