首页> 中国专利> 有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法

有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法

摘要

本发明公开了一种有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法,属于有机发光显示器的密封技术领域,其在密封盖板掩膜曝光过程中,在对盖板尺寸进行定位的同时实现对Mark点定位,定位方法是在密封盖板的上下两表面各附着一张定位胶片基板,各定位胶片基板上均标注有密封盖板的图形尺寸和Mark点的相对位置,由此实现对Mark点的定位。本发明有机发光显示器密封盖板Mark点的加工方法,将Mark点定位和曝光同时进行,极大缩小了定位误差,实现了标识清晰、定位精确、易被生产线自动识别等技术突破,并缩短了加工时间,提高了生产效率。

著录项

  • 公开/公告号CN102130149B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2012-11-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 浙江贝力生科技有限公司;

    申请/专利号CN201110001140.7

  • 发明设计人 沈伟;言学梅;金阳;沈鸣;范红;

    申请日2011-01-06

  • 分类号

  • 代理机构绍兴市越兴专利事务所;

  • 代理人蒋卫东

  • 地址 312071 浙江省绍兴市袍江新区越东北路24号

  • 入库时间 2022-08-23 09:11:59

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-03-02

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H01L 27/32 授权公告日:20121107 终止日期:20150106 申请日:20110106

    专利权的终止

  • 2012-11-07

    授权

    授权

  • 2011-08-31

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 27/32 申请日:20110106

    实质审查的生效

  • 2011-07-20

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号