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电子仪器用试验装置以及电子仪器用试验箱

摘要

本发明的技术课题在于,提供一种使试验箱(试验室)的电波屏蔽性能提高了的能够精密地进行电子仪器的试验的电子仪器用试验装置,并提供一种即便在玻璃板上形成厚的ITO膜的情况下或者在玻璃板的两面形成ITO膜的情况下,也能良好地观察试验箱主体内部的电子仪器的可视性高的电子仪器用试验箱。它具备在作为试验箱(10)与箱门(20)的抵接部分的试验箱(10)的开口边缘部(12)或者箱门(20)的周边部(22)安装的金属制的销(30、32、33)、和在箱门(20)的周边部(22)或者试验箱(10)的开口边缘部(12)安装的具有电波屏蔽性的衬垫(40、41、42),另外,它还具备在试验箱主体(510的内周面安装的电波吸收体(530)、以及被固定在其表面的明色的绝缘层(540)。

著录项

  • 公开/公告号CN101395485A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2009-03-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本轻金属株式会社;

    申请/专利号CN200780007660.0

  • 发明设计人 长嶋道夫;内田胜也;山本克史;

    申请日2007-12-12

  • 分类号G01R31/00(20060101);G01R29/10(20060101);H05K9/00(20060101);

  • 代理机构11322 北京尚诚知识产权代理有限公司;

  • 代理人龙淳

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2023-12-17 21:44:58

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-01-13

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R31/00 申请公布日:20090325 申请日:20071212

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2010-03-24

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2009-03-25

    公开

    公开

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