决定检测存储阵列输出的最佳时间情况存储

摘要

一种存储部件内的跟踪电路，其在最佳时间情况产生检测使能信号。该跟踪电路包括含有许多个虚设单元(220，230，240)的可升级驱动器块，每个虚设单元具有的驱动强度与存储阵列(120)内单元的驱动强度相同。虚设单元被开启并像存储阵列内的存储单元一样驱动存储列。结果，至少当行的数目大时，可升级驱动器块模拟列(列内的许多个行)引起的延迟。在行的数目较小的情形下，反向控制逻辑仿真该延迟，并且反向控制逻辑和可升级驱动器块中的一个提供用于触发检测操作的脉冲。