降低x－射线辐射对植入式医疗设备电路不良影响的方法和器械

摘要

根据本发明，提供了用于确定x－射线辐射冲击是否会对植入式医疗设备(IMD)潜在易受损离散元件、电路和/或电路通道造成改变或损坏的方法和结构。本发明包括用于从所述潜在易受损元件、电路和/或电路通道偏转x－射线辐射冲击的结构。x－射线辐射可由各种成像形式或未知来源产生。许多IMD可利用本发明的内容，包括例如起搏器、药物递送泵、神经刺激设备、肌肉刺激设备、植入式心复律器－除颤器、皮下除颤器、深部脑刺激器等。