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在系统可编程器件逻辑资源测试技术

摘要

一种在系统可编程器件逻辑资源测试技术,最大限度地应用逻辑资源并根据其部件特点和信号流向将其设计成可以测试电路,再对测试电路进行测试,以实现逻辑资源功能测试及直流参数和交流测试。优点是:提出了基于可测性设计技术的逻辑资源模型和测试技术方案;使用一次编程/搽除完成逻辑资源的整体测试,使器件的功能、直流、交流测试成为可能。功能测试覆盖率和直流、交流参数测试覆盖率均可达到100%。

著录项

  • 公开/公告号CN1885052A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-12-27

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200610019598.4

  • 发明设计人 石坚;吴丹;夏强民;

    申请日2006-07-11

  • 分类号G01R31/28;G01R31/317;G01R31/3177;

  • 代理机构武汉金堂专利事务所;

  • 代理人胡清堂

  • 地址 430074 湖北省武汉市洪山区珞瑜路718号

  • 入库时间 2023-12-17 17:59:48

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-06-17

    发明专利申请公布后的视为撤回

    发明专利申请公布后的视为撤回

  • 2007-02-14

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-12-27

    公开

    公开

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