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使用t-检验计算的k-均值聚类

摘要

一种用于使用t-检验计算进行k-均值聚类的方法、设备和系统。按照一个实施例,k-均值聚类在数据集上执行。在执行k-均值聚类的时候,具有不同点的数据集被分区成几个聚类。确定一个给定点对于一个给定聚类的紧密度。然后,执行t-检验计算以确定所述点与所述聚类之间的统计线性关系。如果接近于聚类的点被找到,并且所述点与所述聚类之间的统计线性关系也被找到,则所述点的位置就保持不动。

著录项

  • 公开/公告号CN1770161A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2006-05-10

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN200510119974.2

  • 发明设计人 Q·刁;

    申请日2005-09-28

  • 分类号G06F17/30(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人刘杰

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2023-12-17 17:12:18

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2016-11-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G06F17/30 授权公告日:20100224 终止日期:20150928 申请日:20050928

    专利权的终止

  • 2010-02-24

    授权

    授权

  • 2006-07-05

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2006-05-10

    公开

    公开

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